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参数资料
| 型号： | TMP19A71CYFG |
| 厂商： | Toshiba Corporation |
| 英文描述： | Zener Diode; Application: General; Pd (mW): 200; Vz (V): 22.93 to 23.96; Condition Iz at Vz (mA): 5; C (pF) max: -; Condition VR at C (V):   ESD (kV) min: -; Package: URP |
| 中文描述： | 32位RISC微处理器 |
| 文件页数： | 358/402页 |
| 文件大小： | 3621K |
| 代理商： | TMP19A71CYFG |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页第200页第201页第202页第203页第204页第205页第206页第207页第208页第209页第210页第211页第212页第213页第214页第215页第216页第217页第218页第219页第220页第221页第222页第223页第224页第225页第226页第227页第228页第229页第230页第231页第232页第233页第234页第235页第236页第237页第238页第239页第240页第241页第242页第243页第244页第245页第246页第247页第248页第249页第250页第251页第252页第253页第254页第255页第256页第257页第258页第259页第260页第261页第262页第263页第264页第265页第266页第267页第268页第269页第270页第271页第272页第273页第274页第275页第276页第277页第278页第279页第280页第281页第282页第283页第284页第285页第286页第287页第288页第289页第290页第291页第292页第293页第294页第295页第296页第297页第298页第299页第300页第301页第302页第303页第304页第305页第306页第307页第308页第309页第310页第311页第312页第313页第314页第315页第316页第317页第318页第319页第320页第321页第322页第323页第324页第325页第326页第327页第328页第329页第330页第331页第332页第333页第334页第335页第336页第337页第338页第339页第340页第341页第342页第343页第344页第345页第346页第347页第348页第349页第350页第351页第352页第353页第354页第355页第356页第357页当前第358页第359页第360页第361页第362页第363页第364页第365页第366页第367页第368页第369页第370页第371页第372页第373页第374页第375页第376页第377页第378页第379页第380页第381页第382页第383页第384页第385页第386页第387页第388页第389页第390页第391页第392页第393页第394页第395页第396页第397页第398页第399页第400页第401页第402页
TMP19A71
5)
Auto Chip Erase command
The Auto Chip Erase command requires six bus cycles. The flash area is partitioned into two
blocks, Block 0 and Block 1. The chip erase operation is performed for each individual block.
After completion of the sixth bus cycle, the Auto Chip Erase operation will commence
immediately. The embedded Auto Erase algorithm automatically preprograms the entire
memory for an all-0 data pattern prior to the erase; then it automatically erases and verifies
the entire memory for an all-1 data pattern. The system can determine the status of the chip
erase operation by using write status flags (see Table 17.4.3). Any commands written during
the chip erase operation are ignored. A hardware reset immediately terminates the chip erase
operation. The chip erase operation that was interrupted should be re-initiated once the flash
memory is ready to accept another command sequence because data may be corrupted.
The block protection feature disables erase operations in any block. The Auto Chip Erase
algorithm erases the unprotected blocks and ignores the protected blocks. If both blocks are
protected, the Auto Chip Erase command does nothing; the flash memory returns to Read
mode in approximately 100
μ
s after the completion of the sixth bus cycle of the command
sequence. When the embedded Auto Chip Erase algorithm is complete, the flash memory
returns to Read mode.
If any failure occurs during the erase operation, the flash memory remains locked in
Embedded Operation mode. The system can determine this status by using write status flags.
To put the flash memory back in Read mode, use a software reset or a hardware reset to reset
the flash memory or the device. In case of an erase failure, it is recommended to replace the
chip or discontinue the use of the failing flash block. The failing block can be identified by the
Block Erase command.
6)
Auto Block Erase and Auto Multi-Block Erase Commands
The Auto Block Erase command requires six bus cycles. A time-out begins from the
completion of the command sequence. After a time-out, the erase operation will commence.
The embedded Auto Block Erase algorithm automatically preprograms the selected block for
an all-0 data pattern, and then erases and verifies that block for an all-1 data pattern.
To erase the next block, the sixth bus cycle must be repeated; the next block address and the
Auto Block Erase command must be provided within the time-out period.
Any command other than Auto Block Erase during the time-out period resets the flash
memory to Read mode. The block erase time-out period is 50
μ
s. The system may read DQ3 to
determine whether the time-out period has expired. The block erase timer begins counting
upon completion of the sixth bus cycle of the Auto Block Erase command sequence. The
system can determine the status of the erase operation by using write status flags (see Table
17.4.3).
Any commands written during the block erase operation are ignored. A hardware reset
immediately terminates the block erase operation. The block erase operation that was
interrupted should be re-initiated once the flash memory is ready to accept another command
sequence because data may be corrupted.
The block protection feature disables erase operations in any block. The Auto Block Erase
algorithm erases the unprotected blocks and ignores the protected blocks. If all the selected
blocks are protected, the Auto Block Erase algorithm does nothing; the flash memory returns
to Read mode in approximately 100
μ
s after the final bus cycle of the command sequence.
If any failure occurs during the erase operation, the flash memory remains locked in
Embedded Operation mode. The system can determine this status by using the write status
flags. To put the flash memory back in Read mode, use a software or hardware reset to reset
the flash memory or the whole chip. In case of an erase failure, it is recommended to replace
the chip or discontinue the use of the failing flash block. If any failure occurred during the
TMP19A71
17-54
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