参数资料
| 型号： | XE8805AMI028LF |
| 厂商： | Semtech |
| 文件页数： | 18/156页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DAS 16BIT FLASH 8K MTP 64LQFP |
| 标准包装： | 160 |
| 系列： | XE880x |
| 应用： | 感测机 |
| 核心处理器： | Coolrisc816? |
| 程序存储器类型： | 闪存（22 kB） |
| 控制器系列： | XE8000 |
| RAM 容量： | 512 x 8 |
| 接口： | UART，USRT |
| 输入/输出数： | 24 |
| 电源电压： | 2.4 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 64-LQFP |
| 包装： | 托盘 |
| 供应商设备封装： | 64-LQFP（10x10） |
| 产品目录页面： | 585 (CN2011-ZH PDF) |
| 配用： | XE8000MP-ND - PROG BOARD AND PROSTART2 CARD |
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Semtech 2006
www.semtech.com
16-28
XE8805/05A
Offset error is defined as the output code error for a zero volt input (ideally, output code = 0). The offset of the ADC
and the PGA1 stage are completely suppressed if NELCONV > 1.
The measured offset drift vs. temperature curves for different PGA gains are depicted in Figure 16-20. The output
offset error, expressed in LSB for 16-bit setting, is normalized to 25°C. Notice that if the ADC is used alone, the
output offset error is below
±1 LSB and has no drift.
NORMALIZED TO 25°C
-0.4
-0.3
-0.2
-0.1
0.0
0.1
0.2
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature [°C]
G
a
in
E
rro
r[
%
o
fF
S
R
]
1
5
20
100
Figure 16-19. Gain error vs. temperature for different PGA gains
NORMALIZED TO 25°C
-40
-20
0
20
40
60
80
100
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature [°C]
O
u
tp
u
t
O
ffs
e
tE
rr
o
r[L
S
B
]
1
5
20
100
Figure 16-20. Offset error vs. temperature for different PGA gains
16.8.6
Power Consumption
Figure 16-21 plots the variation of quiescent current consumption with supply voltage VDD, as well as the
distribution between the 3 PGA stages and the ADC (see Table 16-28). As shown in Figure 16-22, if lower
sampling frequency is used, the quiescent current consumption can be lowered by reducing the bias currents of the
PGAs and the ADC with registers IB_AMP_PGA
[1:0]
and IB_AMP_ADC
[1:0]
. (In Figure 16-22,
IB_AMP_PGA/ADC[1:0]
= '11', '10', '00' for fS = 500, 250, 62.5kHz respectively.)
Quiescent current consumption vs. temperature is depicted in Figure 16-23, showing a relative increase of nearly
40% between -45 and +85°C. Figure 16-24 shows the variation of quiescent current consumption for different
frequency settings of the internal RC oscillator. It can be seen that the quiescent current varies by about 20%
between 100kHz and 2MHz.
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