参数资料
| 型号： | A3PE600-PQG208I |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 159/162页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 600000 GATES 208-PQFP |
| 标准包装： | 24 |
| 系列： | ProASIC3E |
| RAM 位总计： | 110592 |
| 输入/输出数： | 147 |
| 门数： | 600000 |
| 电源电压： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 208-BFQFP |
| 供应商设备封装： | 208-PQFP（28x28） |
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ProASIC3E DC and Switching Characteristics
2-82
Revision 13
Embedded FlashROM Characteristics
Timing Characteristics
JTAG 1532 Characteristics
JTAG timing delays do not include JTAG I/Os. To obtain complete JTAG timing, add I/O buffer delays to
the corresponding standard selected; refer to the I/O timing characteristics in the "User I/O
Characteristics" section on page 2-12 for more details.
Timing Characteristics
Figure 2-54 Timing Diagram
A0
A1
tSU
tHOLD
tSU
tHOLD
tSU
tHOLD
tCKQ2
CLK
Address
Data
D0
D1
Table 2-102 Embedded FlashROM Access Time
Parameter
Description
–2
–1
Std.
Units
tSU
Address Setup Time
0.53
0.61
0.71
ns
tHOLD
Address Hold Time
0.00
ns
tCK2Q
Clock to Out
16.23
18.48
21.73
ns
FMAX
Maximum Clock Frequency
15
MHz
Table 2-103 JTAG 1532
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, VCC = 1.425 V
Parameter
Description
–2
–1
Std.
Units
tDISU
Test Data Input Setup Time
0.50
0.57
0.67
ns
tDIHD
Test Data Input Hold Time
1.00
1.13
1.33
ns
tTMSSU
Test Mode Select Setup Time
0.50
0.57
0.67
ns
tTMDHD
Test Mode Select Hold Time
1.00
1.13
1.33
ns
tTCK2Q
Clock to Q (data out)
6.00
6.80
8.00
ns
tRSTB2Q
Reset to Q (data out)
20.00 22.67
26.67
ns
FTCKMAX
TCK Maximum Frequency
25.00 22.00
19.00
MHz
tTRSTREM
ResetB Removal Time
0.00
ns
tTRSTREC
ResetB Recovery Time
0.20
0.23
0.27
ns
tTRSTMPW
ResetB Minimum Pulse
TBD
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-5 for derating values.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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| ACM43DRMH-S288 | CONN EDGECARD EXTEND 86POS 0.156 |
| ACM43DRMD-S288 | CONN EDGECARD EXTEND 86POS 0.156 |
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参数描述 |
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