参数资料
| 型号： | A3PE600-PQG208I |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 94/162页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 600000 GATES 208-PQFP |
| 标准包装： | 24 |
| 系列： | ProASIC3E |
| RAM 位总计： | 110592 |
| 输入/输出数： | 147 |
| 门数： | 600000 |
| 电源电压： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 208-BFQFP |
| 供应商设备封装： | 208-PQFP（28x28） |
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ProASIC3E Flash Family FPGAs
Revision 13
2-23
Table 2-23 Schmitt Trigger Input Hysteresis
Hysteresis Voltage Value (typ.) for Schmitt Mode Input Buffers
Input Buffer Configuration
Hysteresis Value (typ.)
3.3 V LVTTL/LVCMOS/PCI/PCI-X (Schmitt trigger mode)
240 mV
2.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
140 mV
1.8 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
80 mV
1.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
60 mV
Table 2-24 I/O Input Rise Time, Fall Time, and Related I/O Reliability*
Input Buffer
Input Rise/Fall Time
(min.)
Input Rise/Fall Time (max.)
Reliability
LVTTL/LVCMOS
(Schmitt trigger disabled)
No requirement
10 ns *
20 years
(110°C)
LVTTL/LVCMOS
(Schmitt trigger enabled)
No requirement
No requirement, but input noise
voltage
cannot
exceed
Schmitt
hysteresis.
20 years
(110°C)
HSTL/SSTL/GTL
No requirement
10 ns *
10 years
(100°C)
LVDS/B-LVDS/M-LVDS/
LVPECL
No requirement
10 ns *
10 years
(100°C)
Note: *For clock signals and similar edge-generating signals, refer to the "ProASIC3/E SSO and Pin
Placement Guidelines" chapter of the ProASIC3E FPGA Fabric User’s Guide. The maximum input
rise/fall time is related to the noise induced into the input buffer trace. If the noise is low, then the
rise time and fall time of input buffers can be increased beyond the maximum value. The longer the
rise/fall times, the more susceptible the input signal is to the board noise. Microsemi recommends
signal integrity evaluation/characterization of the system to ensure that there is no excessive noise
coupling into input signals.
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PDF描述 |
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