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参数资料
型号： AGLE3000V5-FGG484
厂商： Microsemi SoC
文件页数： 107/166页
文件大小： 0K
描述： IC FPGA IGLOOE 1.5V 484FPBGA
标准包装： 60
系列： IGLOOe
逻辑元件/单元数： 75264
RAM 位总计： 516096
输入/输出数： 341
门数： 3000000
电源电压： 1.425 V ~ 1.575 V
安装类型： 表面贴装
工作温度： 0°C ~ 70°C
封装/外壳： 484-BGA
供应商设备封装： 484-FPBGA（23x23）
其它名称： 1100-1118
IGLOOe Low Power Flash FPGAs
Revision 13
2-31
The length of time an I/O can withstand IOSH/IOSL events depends on the junction temperature. The
reliability data below is based on a 3.3 V, 36 mA I/O setting, which is the worst case for this type of
analysis.
For example, at 100°C, the short current condition would have to be sustained for more than six months
to cause a reliability concern. The I/O design does not contain any short circuit protection, but such
protection would only be needed in extremely prolonged stress conditions.
Table 2-31 Duration of Short Circuit Event before Failure
Temperature
Time before Failure
–40°C
> 20 years
0°C
> 20 years
25°C
> 20 years
70°C
5 years
85°C
2 years
100°C
6 months
Table 2-32 Schmitt Trigger Input Hysteresis
Hysteresis Voltage Value (Typ.) for Schmitt Mode Input Buffers
Input Buffer Configuration
Hysteresis Value (typ.)
3.3 V LVTTL/LVCMOS/PCI/PCI-X (Schmitt trigger mode)
240 mV
2.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
140 mV
1.8 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
80 mV
1.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
60 mV
1.2 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
40 mV
Table 2-33 I/O Input Rise Time, Fall Time, and Related I/O Reliability*
Input Buffer
Input Rise/Fall Time
(min.)
Input Rise/Fall Time (max.)
Reliability
LVTTL/LVCMOS (Schmitt trigger
disabled)
No requirement
10 ns*
20 years
(100°C)
LVTTL/LVCMOS (Schmitt trigger
enabled)
No requirement
No requirement, but input noise
voltage
cannot
exceed
Schmitt
hysteresis.
20 years
(100°C)
HSTL/SSTL/GTL
No requirement
10 ns*
10 years
(100°C)
LVDS/B-LVDS/M-LVDS/LVPECL
No requirement
10 ns*
10 years
(100°C)
Note: *The maximum input rise/fall time is related to the noise induced into the input buffer trace. If the noise is low,
then the rise time and fall time of input buffers can be increased beyond the maximum value. The longer the
rise/fall times, the more susceptible the input signal is to the board noise. Microsemi recommends signal integrity
evaluation/characterization of the system to ensure that there is no excessive noise coupling into input signals.
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参数描述
AGLE3000V5-FGG484I 功能描述:IC FPGA 1KB FLASH 3M 484-FBGA RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:IGLOOe 标准包装:1 系列:ProASICPLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:- RAM 位总计:129024 输入/输出数:248 门数:600000 电源电压:2.3 V ~ 2.7 V 安装类型:表面贴装 工作温度:- 封装/外壳:352-BFCQFP，带拉杆 供应商设备封装:352-CQFP（75x75）
AGLE3000V5-FGG896 功能描述:IC FPGA 1KB FLASH 3M 896-FBGA RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:IGLOOe 标准包装:1 系列:ProASICPLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:- RAM 位总计:129024 输入/输出数:248 门数:600000 电源电压:2.3 V ~ 2.7 V 安装类型:表面贴装 工作温度:- 封装/外壳:352-BFCQFP，带拉杆 供应商设备封装:352-CQFP（75x75）
AGLE3000V5-FGG896ES 制造商:ACTEL 制造商全称:Actel Corporation 功能描述:IGLOOe Low-Power Flash FPGAs with Flash Freeze Technology
AGLE3000V5-FGG896I 功能描述:IC FPGA 1KB FLASH 3M 896-FBGA RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:IGLOOe 标准包装:1 系列:ProASICPLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:- RAM 位总计:129024 输入/输出数:248 门数:600000 电源电压:2.3 V ~ 2.7 V 安装类型:表面贴装 工作温度:- 封装/外壳:352-BFCQFP，带拉杆 供应商设备封装:352-CQFP（75x75）
AGLE3000V5-FGG896PP 制造商:ACTEL 制造商全称:Actel Corporation 功能描述:IGLOOe Low-Power Flash FPGAs with Flash Freeze Technology
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