参数资料
型号: CY7C1157V18-333BZXI
厂商: CYPRESS SEMICONDUCTOR CORP
元件分类: SRAM
英文描述: 18-Mbit DDR-II+ SRAM 2-Word Burst Architecture (2.0 Cycle Read Latency)
中文描述: 2M X 9 DDR SRAM, 0.45 ns, PBGA165
封装: 13 X 15 MM, 1.40 MM HEIGHT, LEAD FREE, MO-216, FBGA-165
文件页数: 7/27页
文件大小: 645K
代理商: CY7C1157V18-333BZXI
CY7C1146V18, CY7C1157V18
CY7C1148V18, CY7C1150V18
Document Number: 001-06621 Rev. *D
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TAP Controller Block Diagram
Figure 3. Tap Controller Block Diagram
TAP Electrical Characteristics
The Tap Electrical Characteristics table over the operating range follows. [11, 12, 13]
Parameter
Description
Test Conditions
Min
Max
Unit
VOH1
Output HIGH Voltage
IOH = 2.0 mA
1.4
V
VOH2
Output HIGH Voltage
IOH = 100 μA1.6
V
VOL1
Output LOW Voltage
IOL = 2.0 mA
0.4
V
VOL2
Output LOW Voltage
IOL = 100 μA0.2
V
VIH
Input HIGH Voltage
0.65 VDD VDD + 0.3
V
VIL
Input LOW Voltage
–0.3
0.35 VDD
V
IX
Input and Output Load Current
GND
≤ V
I ≤ VDD
55
μA
0
1
2
.
29
30
31
Boundary Scan Register
Identification Register
0
1
2
.
106
0
1
2
Instruction Register
Bypass Register
Selection
Circuitry
Selection
Circuitry
TAP Controller
TDI
TDO
TCK
TMS
Notes
11. These characteristics pertain to the TAP inputs (TMS, TCK, TDI, and TDO). Parallel load levels are specified in the Electrical Characteristics Table.
12. Overshoot: VIH(AC) < VDDQ + 0.35V (Pulse width less than tCYC/2), Undershoot: VIL(AC) > 0.3V (Pulse width less than tCYC/2).
13. All voltage referenced to ground.
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CY7C11651KV18-400BZC 功能描述:静态随机存取存储器 Sync 静态随机存取存储器 QDR RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray
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