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参数资料
| 型号： | DSP56301PW100 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 43/124页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DSP 24BIT FIXED-POINT 208LQFP |
| 标准包装： | 36 |
| 系列： | DSP563xx |
| 类型： | 定点 |
| 接口： | 主机接口，SSI，SCI |
| 时钟速率： | 100MHz |
| 非易失内存： | ROM（9 kB） |
| 芯片上RAM： | 24kB |
| 电压 - 输入/输出： | 3.30V |
| 电压 - 核心： | 3.30V |
| 工作温度： | -40°C ~ 100°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 208-LQFP |
| 供应商设备封装： | 208-LQFP |
| 包装： | 托盘 |
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JTAG/OnCE Interface
DSP56301 Technical Data, Rev. 10
Freescale Semiconductor
1-21
1.12 JTAG/OnCE Interface
Table 1-16.
JTAG/OnCE Interface
Signal Name
Type
State During
Reset
Signal Description
TCK
Input
Test Clock
A test clock signal for synchronizing JTAG test logic.
This input is 5 V tolerant.
TDI
Input
Test Data Input
A test data serial signal for test instructions and data. TDI is sampled on the
rising edge of TCK and has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TDO
Output
Tri-stated
Test Data Output
A test data serial signal for test instructions and data. TDO can be tri-stated.
The signal is actively driven in the shift-IR and shift-DR controller states and
changes on the falling edge of TCK.
This input is 5 V tolerant.
TMS
Input
Test Mode Select
Sequences the test controller’s state machine, is sampled on the rising edge of
TCK, and has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TRST
Input
Test Reset
Asynchronously initializes the test controller, has an internal pull-up resistor,
and must be asserted after power up.
This input is 5 V tolerant.
DE
Input/Output
Input
Debug Event
Provides a way to enter Debug mode from an external command controller (as
input) or to acknowledge that the chip has entered Debug mode (as output).
When asserted as an input, DE causes the DSP56300 core to finish the
current instruction, save the instruction pipeline information, enter Debug
mode, and wait for commands from the debug serial input line. When a debug
request or a breakpoint condition causes the chip to enter Debug mode, DE is
asserted as an output for three clock cycles. DE has an internal pull-up
resistor.
DE is not a standard part of the JTAG Test Access Port (TAP) Controller. It
connects to the OnCE module to initiate Debug mode directly or to provide a
direct external indication that the chip has entered the Debug mode. All other
interface with the OnCE module must occur through the JTAG port.
This input is 5 V tolerant.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| VI-B14-CV-F4 | CONVERTER MOD DC/DC 48V 150W |
| VE-26Z-CY-S | CONVERTER MOD DC/DC 2V 20W |
| NCV8503PW50R2 | IC REG LDO 5V .4A 16SOIC |
| EBC06DRYN-S13 | CONN EDGECARD 12POS .100 EXTEND |
| EBC17DRTF | CONN EDGECARD 34POS DIP .100 SLD |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| DSP56301PW80 | 功能描述:数字信号处理器和控制器 - DSP, DSC 80Mhz/80MMACS RoHS:否 制造商:Microchip Technology 核心:dsPIC 数据总线宽度:16 bit 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:2 KB 最大时钟频率:40 MHz 可编程输入/输出端数量:35 定时器数量:3 设备每秒兆指令数:50 MIPs 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 85 C 封装 / 箱体:TQFP-44 安装风格:SMD/SMT |
| DSP56301UMAD | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:DSP56301 Users Manual Addendum |
| DSP56301VF100 | 功能描述:数字信号处理器和控制器 - DSP, DSC 100Mhz/100MMACS RoHS:否 制造商:Microchip Technology 核心:dsPIC 数据总线宽度:16 bit 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:2 KB 最大时钟频率:40 MHz 可编程输入/输出端数量:35 定时器数量:3 设备每秒兆指令数:50 MIPs 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 85 C 封装 / 箱体:TQFP-44 安装风格:SMD/SMT |
| DSP56301VF80 | 功能描述:数字信号处理器和控制器 - DSP, DSC MAP DSP RoHS:否 制造商:Microchip Technology 核心:dsPIC 数据总线宽度:16 bit 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:2 KB 最大时钟频率:40 MHz 可编程输入/输出端数量:35 定时器数量:3 设备每秒兆指令数:50 MIPs 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 85 C 封装 / 箱体:TQFP-44 安装风格:SMD/SMT |
| DSP56301VF80B1 | 功能描述:数字信号处理器和控制器 - DSP, DSC DSP56301VF80B1 RoHS:否 制造商:Microchip Technology 核心:dsPIC 数据总线宽度:16 bit 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:2 KB 最大时钟频率:40 MHz 可编程输入/输出端数量:35 定时器数量:3 设备每秒兆指令数:50 MIPs 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 85 C 封装 / 箱体:TQFP-44 安装风格:SMD/SMT |
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