参数资料
型号: FQA8N100C
厂商: Fairchild Semiconductor
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文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 1000V 8A TO-3P
产品培训模块: High Voltage Switches for Power Processing
产品变化通告: Design/Process Change Notification 26/June/2007
标准包装: 30
系列: QFET™
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 1000V(1kV)
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 8A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 1.45 欧姆 @ 4A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 5V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 70nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 3220pF @ 25V
功率 - 最大: 225W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-3P-3,SC-65-3
供应商设备封装: TO-3PN
包装: 管件
其它名称: FQA8N100C-ND
FQA8N100CFS
Typical Performance Characteristics
Figure 1. On-Region Characteristics
Figure 2. Transfer Characteristics
Top :
V GS
15.0 V
10.0 V
8.0 V
10
10
150 C
1
7.0 V
6.5 V
6.0 V
Bottom : 5.5 V
1
o
10
10
25 C
-55 C
0
0
o
o
10
-1
※ Notes :
1. 250μ s Pulse Test
2. T C = 25 ℃
※ Notes :
1. V DS = 50V
2. 250μ s Pulse Test
10
10
10
10
-1
0
1
-1
2
4
6
8
10
10
10
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 3. On-Resistance Variation vs.
Drain Current and Gate Voltage
3.0
2.5
V GS = 10V
2.0
1.5
V GS = 20V
V GS , Gate-Source Voltage [V]
Figure 4. Body Diode Forward Voltage
Variation vs. Source Current
and Temperatue
1
0
1.0
※ Note : T J = 25 ℃
150 ℃
25 ℃
※ Notes :
1. V GS = 0V
2. 250μ s Pulse Test
10
0.5
0
5
10
15
20
25
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
I D , Drain Current [A]
Figure 5. Capacitance Characteristics
V SD , Source-Drain voltage [V]
Figure 6. Gate Charge Characteristics
4000
3500
3000
C iss
C iss = C gs + C gd (C ds = shorted)
C os s = C ds + C gd
C rs s = C gd
12
10
8
V DS = 200V
V DS = 500V
V DS = 800V
2500
2000
1500
1000
C oss
※ Notes :
1. V GS = 0 V
2. f = 1 MHz
6
4
500
C rss
2
※ Note : I D = 8A
10
10
10
0
-1
0
1
0
0
1 0
20
3 0
40
5 0
6 0
70
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Q G , Total Gate Charge [nC]
?2005 Fairchild Semiconductor Corporation
FQA8N 1 00C Rev C1
3
www.fairchildsemi.com
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PDF描述
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