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参数资料
| 型号： | IS61DDB21M36-250M3 |
| 厂商： | INTEGRATED SILICON SOLUTION INC |
| 元件分类： | DRAM |
| 英文描述： | 36 Mb (1M x 36 & 2M x 18) DDR-II (Burst of 2) CIO Synchronous SRAMs |
| 中文描述： | 1M X 36 DDR SRAM, 0.35 ns, PBGA165 |
| 封装： | 15 X 17 MM, 1 MM PITCH, FBGA-165 |
| 文件页数： | 18/25页 |
| 文件大小： | 421K |
| 代理商： | IS61DDB21M36-250M3 |
18
Integrated Silicon Solution, Inc. — 1-800-379-4774
Rev. B
2/22/05
ISSI
36 Mb (1M x 36 & 2M x 18)
DDR-II (Burst of 2) CIO Synchronous SRAMs
IEEE 1149.1 TAP and Boundary Scan
The SRAM provides a limited set of JTAG functions to test the interconnection between SRAM I/Os and
printed circuit board traces or other components. There is no multiplexer in the path from I/O pins to the RAM
core.
In conformance with IEEE Standard 1149.1, the SRAM contains a TAP controller, instruction register,
boundary scan register, bypass register, and ID register.
The TAP controller has a standard 16-state machine that resets internally on power-up. Therefore, a TRST
signal is not required.
Signal List
TCK: test clock
TMS: test mode select
TDI: test data-in
TDO: test data-out
JTAG DC Operating Characteristics
(T
A
= 0 to +
70°
C)
Operates with JEDEC Standard 8-5 (1.8V) logic signal levels
Parameter
Symbol
Minimum
Typical
Maximum
Units
Notes
JTAG input high voltage
V
IH1
1.3
—
V
DD
+0.3
V
1
JTAG input low voltage
V
IL1
-0.3
—
0.5
V
1
JTAG output high level
V
OH1
V
DD
-0.4
—
V
DD
V
1, 2
JTAG output low level
V
OL1
V
SS
—
0.4
V
1, 3
1. All JTAG inputs and outputs are LVTTL-compatible.
2. I
OH1
≥
-|2mA|
3. I
OL1
≥
+|2mA|.
JTAG AC Test Conditions
(T
A
= 0 to +
70°
C, V
DD
= 1.8V -5%, +5%)
Parameter
Symbol
Conditions
Units
Input pulse high level
V
IH1
1.3
V
Input pulse low level
V
IL1
0.5
V
Input rise time
T
R1
1.0
ns
Input fall time
T
F1
1.0
ns
Input and output timing reference level
0.9
V
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| IS61DDB22M18 | 36 Mb (1M x 36 & 2M x 18) DDR-II (Burst of 2) CIO Synchronous SRAMs |
| IS61DDB22M18-250M3 | 36 Mb (1M x 36 & 2M x 18) DDR-II (Burst of 2) CIO Synchronous SRAMs |
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| IS61DDB42M18-250M3 | 36 Mb (1M x 36 & 2M x 18) DDR-II (Burst of 4) CIO Synchronous SRAMs |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| IS61DDB21M36-250M3L | 功能描述:静态随机存取存储器 36M (1Mx36) 250MHz DDR II Sync 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
| IS61DDB21M36-275M3 | 功能描述:静态随机存取存储器 36M (1Mx36) 275MHz DDR II Sync 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
| IS61DDB21M36A-250M3L | 功能描述:静态随机存取存储器 36Mb 1Mx36 165ball DDR II Sync 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
| IS61DDB22M18 | 制造商:ISSI 制造商全称:Integrated Silicon Solution, Inc 功能描述:36 Mb (1M x 36 & 2M x 18) DDR-II (Burst of 2) CIO Synchronous SRAMs |
| IS61DDB22M18-250M3 | 功能描述:静态随机存取存储器 36Mb 2Mbx18 DDR II Sync 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
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