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参数资料
| 型号： | MC56F8322VFAER2 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 28/136页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC HYBRID CTRLR 16BIT 48-LQFP |
| 标准包装： | 2,000 |
| 系列： | 56F8xxx |
| 核心处理器： | 56800E |
| 芯体尺寸： | 16-位 |
| 速度： | 60MHz |
| 连通性： | CAN，SCI，SPI |
| 外围设备： | POR，PWM，温度传感器，WDT |
| 输入/输出数： | 21 |
| 程序存储器容量： | 40KB（20K x 16） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 6K x 16 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 2.25 V ~ 3.6 V |
| 数据转换器： | A/D 6x12b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 105°C |
| 封装/外壳： | 48-LQFP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 配用： | MC56F8323EVME-ND - BOARD EVALUATION MC56F8323 |
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Analog-to-Digital Converter (ADC) Parameters
56F8322 Technical Data, Rev. 16
Freescale Semiconductor
123
Preliminary
Figure 10-20 ADC Absolute Error Over Processing and Temperature Extremes Before
and After Calibration for VDCin = 0.60V and 2.70V
Note: The absolute error data shown in the graphs above reflects the effects of both gain error and offset
error. The data was taken on 15 parts: three each from four processing corner lots as well as three from one
nominally processed lot, each at three temperatures: -40°C, 27°C, and 150°C (giving the 45 data points
shown above), for two input DC voltages: 0.60V and 2.70V. The data indicates that for the given
population of parts, calibration significantly reduced (by as much as 34%) the collective variation (spread)
of the absolute error of the population. It also significantly reduced (by as much as 80% when VDCin was
0.6V) the mean (average) of the absolute error and thereby brought it significantly closer to the ideal value
of zero. Although not guaranteed, it is believed that calibration will produce results similar to those shown
above for any population of parts, including those which represent processing and temperature extremes.
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| MC56F8323EVME | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:Evaluation Kit for MC56F832x and MC56F81 |
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