参数资料
| 型号： | MC68306FC16B |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 118/191页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MPU INTEGRATED 132-PQFP |
| 标准包装： | 36 |
| 系列： | M683xx |
| 处理器类型： | M683xx 32-位 |
| 速度： | 16MHz |
| 电压： | 5V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 132-BQFP 缓冲式 |
| 供应商设备封装： | 132-PQFP（24.13x24.13） |
| 包装： | 托盘 |
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MC68306 USER'S MANUAL
MOTOROLA
2.6.9 Crystal Oscillator (X1/CLK, X2)
These two pins are the connections for an external crystal to the internal oscillator circuit.
If an external oscillator is used, it should be connected to X1/CLK, with X2 left floating,
and must drive CMOS levels. A crystal or clock input must be supplied at all times.
2.6.10 IP2
This input can be used as a general-purpose input, the channel B receiver external clock
input (RxCB), or the counter/timer external clock input. When this input is used as the
external clock by the receiver, the received data is sampled on the rising edge of the
clock. A change-of-state detector is also associated with this input.
2.6.11 OP3
This output can be used as a general-purpose output, the open-drain active low counter-
ready output, the open-drain timer output, the channel B transmitter 1X-clock output, or
the channel B receiver 1X-clock output.
2.7 JTAG PORT TEST SIGNALS
The following signals are used with the on-chip test logic defined by the IEEE 1149.1
standard. See IEEE 1149.1 Test Access Port for more information on the use of these
signals.
2.7.1 Test Clock (TCK)
This input provides a clock for on-chip test logic defined by the IEEE 1149.1 standard.
2.7.2 Test Mode Select (TMS)
This input controls test mode operations for on-chip test logic defined by the IEEE 1149.1
standard. Connecting TMS to VCC disables the test controller, making all JTAG circuits
transparent to the system.
2.7.3 Test Data In (TDI)
This input is used for serial test instructions and test data for on-chip test logic defined by
the IEEE 1149.1 standard.
2.7.4 Test Data Out (TDO)
This output is used for serial test instructions and test data for on-chip test logic defined by
the IEEE 1149.1 standard.
2.7.5 Test Reset (
TRST)
This input is the master reset for on-chip test logic defined by the IEEE 1149.1 standard.
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I
Freescale Semiconductor, Inc.
For More Information On This Product,
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| MC68306PV20B | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述:INTEGRATED EC000 MPU - Bulk |
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| MC68307AD | 制造商:MOTOROLA 制造商全称:Motorola, Inc 功能描述:Technical Summary Integrated Multiple-Bus Processor |
| MC68307UM | 制造商:MOTOROLA 制造商全称:Motorola, Inc 功能描述:Technical Summary Integrated Multiple-Bus Processor |
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