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参数资料
| 型号： | NOIV1SE025KA-GDC |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 46/76页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC IMAGE SENSOR 25MP 355PGA |
| 标准包装： | 14 |
| 系列： | * |
| 象素大小： | 4.5µm x 4.5µm |
| 有源象素阵列： | 5120H x 5120V |
| 每秒帧数： | 53 |
| 类型： | CMOS 成像 |
| 封装/外壳： | * |
| 供应商设备封装： | * |
| 包装： | * |
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NOIV1SN025KA
Table 34. REGISTER MAP
Default
Address Offset
Address
Bit Field
Register Name
Hex
Default
Description
Access
[6:0]
frame_sync
0x02A
42
Frame Sync LSBs
Note: The three MSBs of the
resulting 10-bit Frame sync
word is not configurable. The
tenth bit indicates frame/line
sync code, ninth bit indicates
start, eighth bit indicates end.
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
132
133
134
135
136
137
138
139
140
141
[9:0]
[9:0]
[9:0]
[9:0]
[15:0]
[15:0]
[15:0]
[15:0]
[15:0]
[15:0]
sync_code1
bl
sync_code2
img
sync_code3
crc
sync_code4
tr
blackcal_error0
blackcal_error[15:0]
blackcal_error1
blackcal_error[31:16]
blackcal_error2
blackcal_error[47:32]
blackcal_error3
blackcal_error[63:48]
reserved
reserved
reserved
reserved
0x0015
0x015
0x0035
0x035
0x0059
0x059
0x03A6
0x3A6
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0x0000
0xFFFF
0xFFFF
21
21
53
53
89
89
934
934
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
65535
65535
Black Pixel Identification Sync
Code
Valid Pixel Identification Sync
Code
CRC Value Identification Sync
Code
Training Value Identification
Sync Code
Black Calibration Error. This
flag is set when not enough
black samples are availlable.
Black Calibration shall not be
valid. Channels 0-15
Black Calibration Error. This
flag is set when not enough
black samples are availlable.
Black Calibration shall not be
valid. Channels 16-31
Black Calibration Error. This
flag is set when not enough
black samples are availlable.
Black Calibration shall not be
valid. Channels 32-47
Black Calibration Error. This
flag is set when not enough
black samples are availlable.
Black Calibration shall not be
valid. Channels 48-63
Reserved
Reserved
RW
RW
RW
RW
RO
RO
RO
RO
RW
RW
(Datablock - Test)
16
144
[0]
test_configuration
testpattern_en
0x0000
0x0
0
0
Insert synthesized testpattern
when ‘1’, normal operation
when ‘0’.
RW
http://onsemi.com
46
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