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参数资料
| 型号： | NOIV1SE025KA-GDC |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 47/76页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC IMAGE SENSOR 25MP 355PGA |
| 标准包装： | 14 |
| 系列： | * |
| 象素大小： | 4.5µm x 4.5µm |
| 有源象素阵列： | 5120H x 5120V |
| 每秒帧数： | 53 |
| 类型： | CMOS 成像 |
| 封装/外壳： | * |
| 供应商设备封装： | * |
| 包装： | * |
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NOIV1SN025KA
Table 34. REGISTER MAP
Default
Address Offset
Address
Bit Field
Register Name
Hex
Default
Description
Access
[1]
[2]
[3]
[4]
inc_testpattern
prbs_en
frame_testpattern
reserved
0x0
0x0
0x0
0x0
0
0
0
0
Incrementing testpattern when
‘1’, constant testpattern when
‘0’
Incrementing tstpattern when
‘1’. constant testpattern when
‘0’. Lower bound is defined
by testpattern*, upper bound
is 1023. After reaching 1023,
the counter is reloaded with
configured start data.
Frame test patterns when ’1’,
unframed testpatterns when
’0’
Reserved
17
18
145
146
[15:0]
[7:0]
reserved
reserved
test_configuration0
testpattern0_lsb
0x0000
0x0100
0x00
0
0
256
0
Reserved
Testpattern (LSBs) used on
datapath #0, #8, #16, #24
when testpattern_en = ‘1’.
RW
RW
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
[15:8]
testpattern1_lsb
0x01
1
Testpattern (LSBs) used on
datapath #1, #9, #17, # 25
when testpattern_en = ‘1’.
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
19
147
[7:0]
test_configuration1
testpattern2_lsb
0x0302
0x02
770
2
Testpattern (LSBs) used on
datapath #2, #10, #18, #26
when testpattern_en = ‘1’.
RW
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
[15:8]
testpattern3_lsb
0x03
3
Testpattern (LSBs) used on
datapath #3, #11, #19, #27
when testpattern_en = ‘1’.
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
20
148
[7:0]
test_configuration2
testpattern4_lsb
0x0504
0x04
1284
4
Testpattern (LSBs) used on
datapath #4, #12, #20, #28
when testpattern_en = ‘1’.
RW
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
[15:8]
testpattern5_lsb
0x05
5
Testpattern (LSBs) used on
datapath #5, #13, #21, #29
when testpattern_en = ‘1’.
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
21
149
[7:0]
test_configuration3
testpattern6_lsb
0x0706
0x06
1798
6
Testpattern (LSBs) used on
datapath #6, #14, #22, #30
when testpattern_en = ‘1’.
RW
Note: Most significant bits are
configured in register 150.
http://onsemi.com
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