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参数资料
| 型号： | SI5325C-C-GM |
| 厂商： | Silicon Laboratories Inc |
| 文件页数： | 5/62页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC UP-PROG CLK MULTIPLIER 36-QFN |
| 标准包装： | 490 |
| 系列： | DSPLL® |
| 类型： | 时钟乘法器 |
| PLL： | 是 |
| 输入： | 时钟 |
| 输出： | CML，CMOS，LVDS，LVPECL |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 2:2 |
| 差分 - 输入:输出： | 是/是 |
| 频率 - 最大： | 346MHz |
| 除法器/乘法器： | 是/是 |
| 电源电压： | 1.71 V ~ 3.63 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 36-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 36-QFN（6x6） |
| 包装： | 托盘 |
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Si5325
Rev. 0.5
13
Table 5. Jitter Generation
Parameter
Symbol
Test Condition*
Min
Typ
Max
Unit
Measurement Filter
Jitter Gen
OC-192
JGEN
0.02–80 MHz
—
.49
—
psrms
4–80 MHz
—
.23
—
psrms
0.05–80 MHz
—
.47
—
ps rms
Jitter Gen
OC-48
JGEN
0.12–20 MHz
—
.48
—
ps rms
*Note: Test conditions:
1.
fIN = fOUT = 622.08 MHz
2.
Clock input: LVPECL
3.
Clock output: LVPECL
4.
PLL bandwidth: 877 kHz
5.
VDD =2.5 V
6.
TA =85°C
Table 6. Thermal Characteristics
(VDD = 1.8 ±5%, 2.5 ±10%, or 3.3 V ±10%, TA = –40 to 85 °C)
Parameter
Symbol
Test Condition
Value
Unit
Thermal Resistance Junction to Ambient
JA
Still Air
32
C°/W
Thermal Resistance Junction to Case
JC
Still Air
14
C°/W
Table 7. Absolute Maximum Ratings
Parameter
Symbol
Value
Unit
DC Supply Voltage
VDD
–0.5 to 3.8
V
LVCMOS Input Voltage
VDIG
–0.3 to (VDD + 0.3)
V
CKINn Voltage Level Limits
CKNVIN
0 to VDD
V
XA/XB Voltage Level Limits
XAVIN
0 to 1.2
V
Operating Junction Temperature
TJCT
–55 to 150
C
Storage Temperature Range
TSTG
–55 to 150
C
ESD HBM Tolerance (100 pF, 1.5 k
); All pins except
CKIN+/CKIN–
2kV
ESD MM Tolerance; All pins except CKIN+/CKIN–
150
V
ESD HBM Tolerance (100 pF, 1.5 k
); CKIN+/CKIN–
750
V
ESD MM Tolerance; CKIN+/CKIN–
100
V
Latch-Up Tolerance
JESD78 Compliant
Note: Permanent device damage may occur if the Absolute Maximum Ratings are exceeded. Functional operation should be
restricted to the conditions as specified in the operation sections of this data sheet. Exposure to absolute maximum
rating conditions for extended periods of time may affect device reliability.
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PDF描述 |
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参数描述 |
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