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参数资料
| 型号： | ST72324K6B3/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDIP32 |
| 封装： | 0.400 INCH, SHRINK, PLASTIC, DIP-32 |
| 文件页数： | 51/157页 |
| 文件大小： | 1037K |
| 代理商： | ST72324K6B3/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页当前第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页
ST72324J/K
144/157
10-BIT ADC CHARACTERISTICS (Cont’d)
12.12.1 ADC Accuracy
Conditions: VDD=5V
Notes:
1. ADC Accuracy vs. Negative Injection Current: Injecting negative current on any of the analog input pins significantly
reduces the accuracy of the conversion being performed on another analog input.
For IINJ-=0.8mA, the typical leakage induced inside the die is 1.6A and the effect on the ADC accuracy is a loss of 4 LSB
for each 10K
increase of the external analog source impedance. It is recommended to add a Schottky diode (pin to
ground) to analog pins which may potentially inject negative current. Any positive injection current within the limits spec-
ified for IINJ(PIN) and ΣIINJ(PIN) in Section 12.8 does not affect the ADC accuracy.
2. Data based on characterization results over the whole temperature range, monitored in production.
3. Data based on characterization results in over the whole temperature range with optimized PCB layout, and MCU in
WFI with timer loop.
Figure 97. ADC Accuracy Characteristics
Symbol
Parameter
Conditions
Typ
Max
Unit
|ET|
Total unadjusted error 1)
3.5
EO
Offset error 1)
3
3.52)
LSB
EG
Gain Error 1)
0.5
22)
|ED|
Differential linearity error 1)
CPU in run mode @ fADC 2 MHz.
1.5
4.52)
CPU in test mode @ fADC 2MHz.
1
1.93)
|EL|
Integral linearity error 1)
CPU in run mode @ fADC 2MHz.
1.5
4.52)
CPU in test mode @ fADC 2MHz.
1.3
3.03)
EO
EG
1 LSBIDEAL
1LSB
IDEAL
V
AR EF
V
SSA
–
1024
--------------------------------------------
=
Vin (LSBIDEAL)
(1) Example of an actual transfer curve
(2) The ideal transfer curve
(3) End point correlation line
ET=Total Unadjusted Error: maximum deviation
between the actual and the ideal transfer curves.
EO=Offset Error: deviation between the first actual
transition and the first ideal one.
EG=Gain Error: deviation between the last ideal
transition and the last actual one.
ED=Differential Linearity Error: maximum deviation
between actual steps and the ideal one.
EL=Integral Linearity Error: maximum deviation
between any actual transition and the end point
correlation line.
Digi tal Result ADCDR
1023
1022
1021
5
4
3
2
1
0
7
6
1
2
3
4
5
6
7
1021 1022 1023 1024
(1)
(2)
ET
ED
EL
(3)
VAREF
VSSA
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