参数资料
| 型号： | AD9577BCPZ-RL |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 41/44页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC CLK GEN PLL DUAL 40LFCSP |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | PCI Express® (PCIe) |
| 类型： | 扇出缓冲器（分配），网络时钟发生器，多路复用器 |
| PLL： | 是 |
| 主要目的： | 以太网，PCI Express（PCIe），SONET/SDH |
| 输入： | 时钟，晶体 |
| 输出： | LVCMOS，LVDS，LVPECL |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 2:5 |
| 差分 - 输入:输出： | 无/是 |
| 频率 - 最大： | 637.5MHz |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 40-WFQFN 裸露焊盘，CSP |
| 供应商设备封装： | 40-LFCSP-WQ（6x6） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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AD9577
Data Sheet
Rev. 0 | Page 6 of 44
PLL2 FRACTIONAL-N MODE CHARACTERISTICS
Table 3. Bleed = 1
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
Test Conditions/Comments1
NOISE CHARACTERISTICS
25 MHz crystal used
Phase Noise (155.52 MHz LVPECL Output)
Nb = 87, FRAC = 57, MOD = 625, Vx = 2, Dx = 7
@ 1 kHz
107
dBc/Hz
@ 10 kHz
115
dBc/Hz
@ 100 kHz
122
dBc/Hz
@ 1 MHz
146
dBc/Hz
@ 10 MHz
153
dBc/Hz
@ 30 MHz
152
dBc/Hz
Phase Noise (622.08 MHz LVPECL Output)
Nb = 99, FRAC = 333, MOD = 625, Vx = 2, Dx = 2
@ 1 kHz
95
dBc/Hz
@ 10 kHz
103
dBc/Hz
@ 100 kHz
109
dBc/Hz
@ 1 MHz
133
dBc/Hz
@ 10 MHz
148
dBc/Hz
@ 30 MHz
150
dBc/Hz
Phase Noise (155.52 MHz LVDS Output)
Nb = 87, FRAC = 57, MOD = 625, Vx = 2, Dx = 7
@ 1 kHz
107
dBc/Hz
@ 10 kHz
114
dBc/Hz
@ 100 kHz
122
dBc/Hz
@ 1 MHz
145
dBc/Hz
@ 10 MHz
154
dBc/Hz
@ 30 MHz
154
dBc/Hz
Phase Noise (622.08 MHz LVDS Output)
Nb = 99, FRAC = 333, MOD = 625, Vx = 2, Dx = 2
@ 1 kHz
95
dBc/Hz
@ 10 kHz
103
dBc/Hz
@ 100 kHz
109
dBc/Hz
@ 1 MHz
132
dBc/Hz
@ 10 MHz
147
dBc/Hz
@ 30 MHz
149
dBc/Hz
Phase Noise (155.52 MHz CMOS Output)
Nb = 87, FRAC = 57, MOD = 625, Vx = 2, Dx = 7
@ 1 kHz
107
dBc/Hz
@ 10 kHz
114
dBc/Hz
@ 100 kHz
122
dBc/Hz
@ 1 MHz
146
dBc/Hz
@ 10 MHz
154
dBc/Hz
@ 30 MHz
154
dBc/Hz
SPREAD SPECTRUM
Modulation Range
+0.1
0.5
%
Downspread, triangle modulation profile
Modulation Frequency
31.25
kHz
Programmable
Peak Power Reduction
10
dB
First harmonic of 100 MHz output, triangle modulation
profile, spectrum analyzer resolution bandwidth = 20 kHz
1 x indicates either 2 or 3 for any given test condition.
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