参数资料
型号: ADM1067ACPZ
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 12/32页
文件大小: 0K
描述: IC SEQUENCER/SUPERVISOR 40-LFCSP
标准包装: 1
系列: Super Sequencer®
类型: 序列发生器
监视电压数目: 10
输出: 可编程
电压 - 阀值: 可调节/可选择
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 40-VFQFN 裸露焊盘,CSP
供应商设备封装: 40-LFCSP-VQ(6x6)
包装: 托盘
配用: EVAL-ADM1067TQEBZ-ND - BOARD EVALUATION FOR ADM1067TQ
ADM1067
14
12
10
8
6
DAC
BUFFER
OUTPUT
20k ?
47pF
PROBE
POINT
4
2
1
0
0
2.5
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
CH1 200mV
M1.00μs
CH1
756mV
I LOAD (μA)
Figure 11. Charge-Pumped V PDO1 (FET Drive Mode) vs. I LOAD
5.0
4.5
4.0
3.5
3.0
VP1 = 5V
Figure 14. Transient Response of DAC Code Change into Typical Load
2.5
2.0
1.5
VP1 = 3V
DAC 100k ?
BUFFER
OUTPUT
PROBE
POINT
1V
1.0
0.5
1
0
0
1
2
3
4
5
6
CH1 200mV
M1.00μs
CH1
944mV
I LOAD (mA)
4.5
4.0
3.5
Figure 12. V PDO1 (Strong Pull-Up to VP) vs. I LOAD
Figure 15. Transient Response of DAC to Turn-On from High-Z State
1.005
1.004
1.003
3.0
VP1 = 5V
1.002
2.5
1.001
VP1 = 3.0V
2.0
1.5
1.0
0.5
VP1 = 3V
1.000
0.999
0.998
0.997
0.996
VP1 = 4.75V
0
0
10
20
30
40
50
60
0.995
–40
–20
0
20
40
60
80
100
I LOAD (μA)
Figure 13. V PDO1 (Weak Pull-Up to VP) vs. I LOAD
Rev. D | Page 12 of 32
TEMPERATURE ( ° C)
Figure 16. DAC Output vs. Temperature
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