参数资料
型号: IDT70V26L35G
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 7/17页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 256KBIT 35NS 84PGA
标准包装: 3
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 256K(16K x 16)
速度: 35ns
接口: 并联
电源电压: 3 V ~ 3.6 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 84-BPGA
供应商设备封装: 84-PGA(27.94x27.94)
包装: 托盘
其它名称: 70V26L35G
IDT70V26S/L
High-Speed 16K x 16 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
AC Electrical Characteristics Over the
Operating Temperature and Supply Voltage Range (4)
70V26X25
Com'l
& Ind
70V26X35
Com'l Only
70V26X55
Com'l Only
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
READ CYCLE
t RC
t AA
Read Cycle Time
Address Access Time
25
____
____
25
35
____
____
35
55
____
____
55
ns
ns
t ACE
t ABE
Chip Enable Access Time
Byte Enable Access Time
(3)
(3)
____
____
25
25
____
____
35
35
____
____
55
55
ns
ns
t AOE
t OH
t LZ
t HZ
Output Enable Access Time
Output Hold from Address Change
Output Low-Z Time (1,2)
Output High-Z Time (1,2)
____
3
3
____
15
____
____
15
____
3
3
____
20
____
____
20
____
3
3
____
30
____
____
25
ns
ns
ns
ns
t PU
Chip Enable to Power Up Time
(2)
0
____
0
____
0
____
ns
t PD
Chip Disable to Power Down Time
(2)
____
25
____
35
____
50
ns
t SOP
t SAA
Semaphore Flag Update Pulse ( OE or SEM )
Semaphore Address Access Time
15
____
____
35
15
____
____
45
15
____
____
65
ns
ns
NOTES:
1. Transition is measured 0mV from Low- or High-impedance voltage with Output Test Load (Figure 2).
2. This parameter is guaranteed by device characterization, but is not production tested.
3. To access RAM, CE = V IL and SEM = V IH . To access semaphore, CE = V IH and SEM = V IL .
4. 'X' in part number indicates power rating (S or L).
Timing of Power-Up Power-Down
CE
2945 tbl 11
I CC
t PU
50%
t PD
50%
I SB
2945 drw 06 ,
7
6.42
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