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参数资料
| 型号： | IDT82V2042EPFG |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 61/83页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC LIU T1/J1/E1 2CH SHORT 80TQFP |
| 标准包装： | 45 |
| 类型： | 线路接口装置（LIU） |
| 规程： | E1 |
| 电源电压： | 3.13 V ~ 3.47 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 80-LQFP |
| 供应商设备封装： | 80-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 82V2042EPFG |
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IDT82V2042E
DUAL CHANNEL T1/E1/J1 SHORT HAUL LINE INTERFACE UNIT
IEEE STD 1149.1 JTAG TEST ACCESS PORT
64
December 12, 2005
Figure-22 JTAG State Diagram
Exit2-IR
This is a temporary state. While in this state, if TMS is held high, a rising edge applied to TCK causes the controller to enter the Update-IR
state, which terminates the scanning process. If TMS is held low and a rising edge is applied to TCK, the controller enters the Shift-IR state.
The test data register selected by the current instruction retains its previous value and the instruction does not change during this state.
Update-IR
The instruction shifted into the instruction register is latched into the parallel output from the shift-register path on the falling edge of TCK.
When the new instruction has been latched, it becomes the current instruction. The test data registers selected by the current instruction retain
their previous value.
Table-54 TAP Controller State Description (Continued)
STATE
DESCRIPTION
Test-logic Reset
Run Test/Idle
Select-DR
Select-IR
Capture-DR
Capture-IR
Shift-DR
Shift-IR
Exit1-DR
Exit1-IR
Pause-DR
Pause-IR
Exit2-DR
Exit2-IR
Update-DR
Update-IR
1
0
1
00
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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