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参数资料
| 型号： | MPC5561MVZ80R |
| 厂商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | MICROCONTROLLER, PBGA324 |
| 封装： | 23 X 23 MM, 1 MM PITCH, MS-034AAJ-1, LEAD FREE, TEPBGA-324 |
| 文件页数： | 21/56页 |
| 文件大小： | 1044K |
| 代理商： | MPC5561MVZ80R |
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MPC5561 Microcontroller Data Sheet, Rev. 2.0
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
28
3.13.2
IEEE 1149.1 Interface Timing
Figure 6. JTAG Test Clock Input Timing
Table 20. JTAG Pin AC Electrical Characteristics 1
1 These specifications apply to JTAG boundary scan only. JTAG timing specified at: V
DDE = 3.0–3.6 V and TA = TL to TH.
Refer to Table 21 for Nexus specifications.
Spec
Characteristic
Symbol
Min.
Max.
Unit
1
TCK cycle time
tJCYC
100
—
ns
2
TCK clock pulse width (measured at VDDE ÷ 2)
tJDC
40
60
ns
3
TCK rise and fall times (40% to 70%)
tTCKRISE
—3
ns
4
TMS, TDI data setup time
tTMSS, tTDIS
5—
ns
5
TMS, TDI data hold time
tTMSH, tTDIH
25
—
ns
6
TCK low to TDO data valid
tTDOV
—20
ns
7
TCK low to TDO data invalid
tTDOI
0—
ns
8
TCK low to TDO high impedance
tTDOHZ
—20
ns
9
JCOMP assertion time
tJCMPPW
100
—
ns
10
JCOMP setup time to TCK low
tJCMPS
40
—
ns
11
TCK falling-edge to output valid
tBSDV
—50
ns
12
TCK falling-edge to output valid out of high impedance
tBSDVZ
—50
ns
13
TCK falling-edge to output high impedance (Hi-Z)
tBSDHZ
—50
ns
14
Boundary scan input valid to TCK rising-edge
tBSDST
50
—
ns
15
TCK rising-edge to boundary scan input invalid
tBSDHT
50
—
ns
TCK
1
2
3
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