参数资料
| 型号： | PCX7447AVGH1000NB |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 24/52页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MPU 32BIT 1000MHZ 360CBGA |
| 标准包装： | 44 |
| 处理器类型： | PowerPC 32-位 RISC |
| 速度： | 1.0GHz |
| 电压： | 1.1V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 360-CBBGA 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 360-CBGA（25x25） |
| 包装： | 托盘 |
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30
0833E–HIREL–01/07
PC7447A
e2v semiconductors SAS 2007
9.2.3
IEEE 1149.1 AC Timing Specifications
Table 9-4 provides the IEEE 1149.1 (JTAG) AC timing specifications as defined in Figure 9-5 through
Notes:
1. All outputs are measured from the midpoint voltage of the falling/rising edge of TCLK to the midpoint of the signal in ques-
tion. The output timings are measured at the pins. All output timings assume a purely resistive 50
load (see Figure 9-4).
Time-of-flight delays must be added for trace lengths, vias and connectors in the system.
2. TRST is an asynchronous level sensitive signal. The time is for test purposes only.
3. Non-JTAG signal input timing with respect to TCK.
4. Non-JTAG signal output timing with respect to TCK.
5. Guaranteed by design and characterization.
Figure 9-4 provides the AC test load for TDO and the boundary-scan outputs of the PC7457.
Figure 9-4.
Alternate AC Test Load for the JTAG Interface
Table 9-4.
JTAG AC Timing Specifications (Independent of SYSCLK)(1)at Recommended Operating Conditions
(see Table 6-2 on page 10)
Symbol
Parameter
Min
Max
Unit
fTCLK
TCK frequency of operation
0
33.3
MHz
tTCLK
TCK cycle time
30
–
ns
t
JHJL
TCK clock pulse width measured at 1.4V
15
–
ns
tJR and tJF
TCK rise and fall times
–
2
ns
tTRST
TRST assert time
25
–
ns
tDVJH
tIVJH
Input Setup Times:
Boundary-scan data
TMS, TDI
4
0
–
ns
tDXJH
t
IXJH
Input Hold Times:
Boundary-scan data
TMS, TDI
20
25
–
ns
t
JLDV
tJLOV
Valid Times:
Boundary-scan data
TDO
4
20
25
ns
t
JLDX
tJLOX
Output hold times:
Boundary-scan data
TDO
30
–
tJLDZ
t
JLOZ
TCK to output high impedance:
Boundary-scan data
TDO
3
19
9
ns
Output
Z0 = 50
RL = 50
OVDD/2
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