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参数资料
| 型号： | SN65LVDS302_07 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | PROGRAMMABLE 27-BIT SERIAL-TO-PARALLEL RECEIVER |
| 中文描述： | 可编程27位串行到并行接收机 |
| 文件页数： | 24/41页 |
| 文件大小： | 1412K |
| 代理商： | SN65LVDS302_07 |
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www.ti.com
MAXIMUM POWER CONSUMPTION TEST PATTERN
The maximum (or worst-case) power consumption of the SN65LVDS302 is tested using the two different test
pattern shown in table. Test patterns consist of sixteen 30-bit receive words in 1-channel mode, eight 30-bit
receive words in 2-channel mode, and five 30-bit receive words in 3-channel mode. The pattern repeats itself
throughout the entire measurement. It is assumed that every possible code on RGB outputs has the same
probability to occur during typical device operation.
OUTPUT SKEW PULSE POSITION and JITTER PERFORMANCE
The following test patterns are used to measure the output skew pulse position and the jitter performance of the
SN65LVDS302. The jitter test pattern stresses the interconnect, particularly to test for ISI, using very long
run-lengths of consecutive bits, and incorporating very high and low data rates, maximizing switching noise.
Each pattern is self-repeating for the duration of the test.
SN65LVDS302
SLLS733B–JUNE 2006–REVISED FEBRUARY 2007
Table 9. Worst-Case Power Consumption Test Pattern
Word
Test Pattern:
R[7:4], R[3:0], G[7:4], G[3:0], B[7-4], B[3-0], 0,VS,HS,DE
0xAAAAAA5
0x5555555
1
2
Table 10. Worst-Case Power Consumption Test Pattern
Word
Test Pattern:
R[7:4], R[3:0], G[7:4], G[3:0], B[7-4], B[3-0], 0,VS,HS,DE
0x0000000
0xFFFFFF7
1
2
Table 11. Receive Jitter Test Pattern, 1-Channel Mode
Word
Test Pattern:
R[7:4], R[3:0], G[7:4], G[3:0], B[7-4], B[3-0], 0,VS,HS,DE
0x0000001
0x0000031
0x00000F1
0x00003F1
0x0000FF1
0x0003FF1
0x000FFF1
0x0F0F0F1
0x0C30C31
0x0842111
0x1C71C71
0x18C6311
0x1111111
0x3333331
0x2452413
0x22A2A25
0x5555553
0xDB6DB65
0xCCCCCC1
0xEEEEEE1
0xE739CE1
0xE38E381
1
2
3
4
5
6
7
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| SN65LVDS302ZQER | 功能描述:串行器/解串器 - Serdes Programmable 27B Displ Ser Interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 类型:Deserializer 数据速率:1.485 Gbit/s 输入类型:ECL/LVDS 输出类型:LVCMOS 输入端数量:1 输出端数量:20 工作电源电压:2.375 V to 2.625 V 工作温度范围:0 C to + 70 C 封装 / 箱体:TQFP-64 |
| SN65LVDS303ZQE | 功能描述:IC PROG 27BIT SERDES TX 80-BGA RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 接口 - 串行器，解串行器 系列:65LVDS 产品培训模块:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 标准包装:1 系列:- 功能:解串器 数据速率:2.5Gbps 输入类型:串行 输出类型:并联 输入数:- 输出数:24 电源电压:1.8 V ~ 3.3 V 工作温度:-40°C ~ 105°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:64-TQFP 裸露焊盘 供应商设备封装:64-TQFP-EP（10x10） 包装:管件 |
| SN65LVDS303ZQER | 功能描述:串行器/解串器 - Serdes QVGA-VGA 27B Display Serial Interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 类型:Deserializer 数据速率:1.485 Gbit/s 输入类型:ECL/LVDS 输出类型:LVCMOS 输入端数量:1 输出端数量:20 工作电源电压:2.375 V to 2.625 V 工作温度范围:0 C to + 70 C 封装 / 箱体:TQFP-64 |
| SN65LVDS304ZQER | 功能描述:串行器/解串器 - Serdes QVGAVGA 27B Display Ser Interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 类型:Deserializer 数据速率:1.485 Gbit/s 输入类型:ECL/LVDS 输出类型:LVCMOS 输入端数量:1 输出端数量:20 工作电源电压:2.375 V to 2.625 V 工作温度范围:0 C to + 70 C 封装 / 箱体:TQFP-64 |
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