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参数资料
| 型号： | TPS659107A1RSL |
| 厂商： | TEXAS INSTRUMENTS INC |
| 元件分类： | 电源管理 |
| 英文描述： | 1-CHANNEL POWER SUPPLY SUPPORT CKT, PQCC48 |
| 封装： | 6 X 6 MM, 1 MM HEIGHT, 0.40 MM PITCH, PLASTIC, VQFN-48 |
| 文件页数： | 4/93页 |
| 文件大小： | 1014K |
| 代理商： | TPS659107A1RSL |
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SWCS046I
– MARCH 2010 – REVISED JULY 2011
BACKUP BATTERY CHARGER
over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
PARAMETER
TEST CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNIT
Backup battery charging current VBACKUP = 0 to 2.4 V, BBCHEN = 1
350
500
700
A
End-of-charge backup battery
VCC7 = 3.6 V, BBSEL = 10
–3%
3.15
+3%
voltage(1)
VCC7 = 3.6 V, BBSEL = 00
–3%
3
+3%
V
VCC7 = 3.6 V, BBSEL = 01
–3%
2.52
+3%
VBAT
–
VCC7 = 3.6 V, BBSEL = 11
VBAT
0.3 V
Ground current
On mode
10
A
(1)
Note:
(a) BBSEL = 10, 00, or 01 intended to charge battery or superCap
(b) BBSEL = 11 intended to charge capacitor
VRTC LDO
over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
PARAMETER
TEST CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNIT
Input voltage VIN
On mode
2.5
5.5
V
Back-up mode
1.9
3
DC output voltage VOUT
On mode, 3.0 V
< VIN < 5.5 V
1.78
1.83
1.88
V
Back-up mode, 2.3 V
≤ VIN ≤ 2.6 V
1.72
1.78
1.84
Rated output current IOUTmax
On mode
20
mA
Back-up mode
0.1
DC load regulation
On mode, IOUT = IOUTmax to 0
50
mV
Back-up mode, IOUT = IOUTmax to 0
50
DC line regulation
On mode, VIN = 3.0 V to VINmax @ IOUT = IOUTmax
2.5
mV
Back-up mode, VIN = 2.3 V to 5.5 V @ IOUT =
25
IOUTmax
Transient load regulation
On mode, VIN = VINmin + 0.2 V to VINmax
50 (1)
mV
IOUT = IOUTmax/2 to IOUTmax in 5 s
and IOUT = IOUTmax to IOUTmax/2 in 5 s
Transient line regulation
On mode, VIN = VINmin + 0.5 V to VINmin in 30 s
25 (1)
mV
And VIN = VINmin to VINmin + 0.5 V in 30 s, IOUT =
IOUTmax/2
IOUT = 0, VIN rising from 0 up to 3.6 V, @ VOUT =
Turn-on time
2.2
ms
0.1 V up to VOUTmin
VIN = VINDC + 100 mVpp tone, VINDC+ = VINmin +
Ripple rejection
0.1 V to VINmax @ IOUT = IOUTmax/2
f = 217 Hz
55
dB
f = 50 kHz
35
Ground current
Device in ACTIVE state
23
A
Device in BACKUP or OFF state
3
(1)
These parameters are not tested. They are used for design specification only.
12
Copyright
2010–2011, Texas Instruments Incorporated
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PDF描述 |
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