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参数资料
| 型号： | ADSP-BF504KCPZ-3F |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 47/80页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC CCD SIGNAL PROCESSOR 88LFCSP |
| 视频文件： | Blackfin? BF50x Processor Family |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | Blackfin® |
| 类型： | 定点 |
| 接口： | CAN，EBI/EMI，I²C，IrDA，PPI，SPI，SPORT，UART/USART |
| 时钟速率： | 300MHz |
| 非易失内存： | 闪存（16MB） |
| 芯片上RAM： | 68kB |
| 电压 - 输入/输出： | 3.30V |
| 电压 - 核心： | 1.31V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 88-VFQFN 裸露焊盘，CSP |
| 供应商设备封装： | 88-LFCSP（12x12） |
| 包装： | 托盘 |
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Rev. A
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July 2011
ADSP-BF504/ADSP-BF504F/ADSP-BF506F
Output Disable Time Measurement
Output pins are considered to be disabled when they stop driv-
ing, go into a high impedance state, and start to decay from their
output high or low voltage. The output disable time t
DIS is the
difference between t
DIS
_MEASURED and tDECAY as shown on the left side
of Figure 42.
The time for the voltage on the bus to decay by
ΔV is dependent
on the capacitive load C
L and the load current IL. This decay time
can be approximated by the equation:
The time t
DECAY is calculated with test loads CL and IL, and with
ΔV equal to 0.25 V for V
DDEXT (nominal) = 2.5 V/3.3 V and
0.15 V for VDDEXT (nominal) = 1.8 V.
The time t
DIS
_MEASURED is the interval from when the reference sig-
nal switches, to when the output voltage decays
ΔV from the
measured output high or output low voltage.
Example System Hold Time Calculation
To determine the data output hold time in a particular system,
first calculate t
DECAY using the equation given above. Choose ΔV
to be the difference between the processor’s output voltage and
the input threshold for the device requiring the hold time. C
L is
the total bus capacitance (per data line), and I
L is the total leak-
age or three-state current (per data line). The hold time will be
t
DECAY plus the various output disable times as specified in the
Capacitive Loading
Output delays and holds are based on standard capacitive loads
how output rise time varies with capacitance. The delay and
hold specifications given should be derated by a factor derived
from these figures. The graphs in these figures may not be linear
outside the ranges shown.
Figure 43. Equivalent Device Loading for AC Measurements
(Includes All Fixtures)
tDIS
tDIS_MEASURED tDECAY
–
=
tDECAY
CL V
Δ
() I
L
=
T1
ZO = 50
: (impedance)
TD = 4.04
r 1.18 ns
2pF
TESTER PIN ELECTRONICS
50
:
0.5pF
70
:
400
:
45
:
4pF
NOTES:
THE WORST CASE TRANSMISSION LINE DELAY IS SHOWN AND CAN BE USED
FOR THE OUTPUT TIMING ANALYSIS TO REFELECT THE TRANSMISSION LINE
EFFECT AND MUST BE CONSIDERED. THE TRANSMISSION LINE (TD), IS FOR
LOAD ONLY AND DOES NOT AFFECT THE DATA SHEET TIMING SPECIFICATIONS.
ANALOG DEVICES RECOMMENDS USING THE IBIS MODEL TIMING FOR A GIVEN
SYSTEM REQUIREMENT. IF NECESSARY, A SYSTEM MAY INCORPORATE
EXTERNAL DRIVERS TO COMPENSATE FOR ANY TIMING DIFFERENCES.
VLOAD
DUT
OUTPUT
50
:
Figure 44. Driver Type B Typical Rise and Fall Times (10%–90%) vs.
Load Capacitance (1.8 V VDDEXT)
Figure 45. Driver Type B Typical Rise and Fall Times (10%–90%) vs.
Load Capacitance (2.5 V VDDEXT)
Figure 46. Driver Type B Typical Rise and Fall Times (10%–90%) vs.
Load Capacitance (3.3 V VDDEXT)
4
RISE
AND
F
ALL
TIME
(ns)
LOAD CAPACITANCE (pF)
0
50
100
150
250
9
7
0
1
3
6
200
t
RISE
t
FALL
t
RISE = 1.8V @ 25°C
t
FALL = 1.8V @ 25°C
2
5
8
4
RISE
AND
F
ALL
TIME
(ns)
LOAD CAPACITANCE (pF)
0
50
100
150
250
7
6
0
1
2
5
200
t
RISE
t
FALL
3
t
RISE = 2.5V @ 25°C
t
FALL = 2.5V @ 25°C
3
RISE
AND
F
ALL
TIME
(ns)
LOAD CAPACITANCE (pF)
0
50
100
150
250
6
5
0
1
2
4
200
t
RISE
t
FALL
t
RISE = 3.3V @ 25°C
t
FALL = 3.3V @ 25°C
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