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参数资料
| 型号： | EVAL-AD5560EBUZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 23/68页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVALUATION FOR AD5560 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 电源管理，电源监控器/跟踪器/序列发生器 |
| 已用 IC / 零件： | AD5560 |
| 次要属性： | 串行接口 |
| 已供物品： | 板 |
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Data Sheet
AD5560
Rev. D | Page 3 of 68
REVISION HISTORY
8/12—Rev. C to Rev. D
Added 72-Ball Flip-Chip BGA (Throughout)...............................1
Added Figure 7 and Table 5 (Renumbered Sequentially)..........18
Added Applications Information Section ....................................62
Updated Outline Dimensions........................................................64
Changes to Ordering Guide...........................................................65
10/10—Rev. B to Rev. C
Changes to Force Output Voltage Parameter and Load Transient
Response Parameter, Table 1............................................................5
Changes to Figure 52 ......................................................................29
Changes to Table 9 ..........................................................................32
9/09—Rev. A to Rev. B
Changes to Table 1, Measure Current and Measure Voltage
Parameters..........................................................................................6
Changes to Die Temperature Sensor and Thermal
Shutdown Section............................................................................31
Changes to Table 10 and Table 11 .................................................32
Changes to Table 18, Bit 15 ............................................................45
Changes to Table 23, Bits[15:12] ...................................................50
Changes to Table 25 ........................................................................54
12/08—Rev. 0 to Rev. A
Changes to Figure 1 ..........................................................................4
Changes to Table 1 ............................................................................4
Changes to Table 2 ..........................................................................13
Changes to Table 3 ..........................................................................15
Changes to Open-Sense Detect (OSD) Alarm and Clamp .......27
Changes to Figure 53 ......................................................................30
Change to gm Maximum Rating, Table 13..................................34
Changes to Table 19 ........................................................................46
Changes to Bit 7, Bit 8 Functions, Table 21 .................................48
Changes to Power Supply Decoupling Section ...........................59
11/08—Revision 0: Initial Version
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| EVAL-AD5522EBDZ | BOARD EVAL FOR 14X14MM AD5522 |
| EVAL-AD5520EBZ | BOARD EVAL FOR AD5520 |
| MAX6198AESA+T | IC VREF SERIES PREC 4.096V 8SOIC |
| QPI-5-EVAL1 | EVALUATION BOARD FOR QPI-5 |
| H6MMH-4006M | DIP CABLE - HDM40H/AE40M/HDM40H |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| EVAL-AD5570EB | 制造商:Analog Devices 功能描述:DEV TOOLS, TRUE ACCURACY, 16BIT 12V/ 15V, SERL INPUT VOLT O - Bulk |
| EVAL-AD5570EBZ | 功能描述:BOARD EVALUATION FOR AD5570 RoHS:是 类别:编程器，开发系统 >> 评估板 - 数模转换器 (DAC) 系列:- 产品培训模块:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 标准包装:1 系列:- DAC 的数量:4 位数:12 采样率（每秒）:- 数据接口:串行，SPI? 设置时间:3µs DAC 型:电流/电压 工作温度:-40°C ~ 85°C 已供物品:板 已用 IC / 零件:MAX5581 |
| EVAL-AD5570SDZ | 功能描述:BOARD EVAL FOR AD5570 RoHS:是 类别:编程器，开发系统 >> 评估板 - 数模转换器 (DAC) 系列:- 产品培训模块:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 标准包装:1 系列:- DAC 的数量:4 位数:12 采样率（每秒）:- 数据接口:串行，SPI? 设置时间:3µs DAC 型:电流/电压 工作温度:-40°C ~ 85°C 已供物品:板 已用 IC / 零件:MAX5581 |
| EVAL-AD5590EBZ | 功能描述:BOARD EVAL FOR AD5590 RoHS:是 类别:编程器，开发系统 >> 评估板 - 模数转换器 (ADC) 系列:- 产品培训模块:Obsolescence Mitigation Program 标准包装:1 系列:- ADC 的数量:1 位数:12 采样率（每秒）:94.4k 数据接口:USB 输入范围:±VREF/2 在以下条件下的电源（标准）:- 工作温度:-40°C ~ 85°C 已用 IC / 零件:MAX11645 已供物品:板，软件 |
| EVAL-AD5620EB | 制造商:AD 制造商全称:Analog Devices 功能描述:Single, 12-/14-/16-Bit nanoDAC with 5 ppm/C On-Chip Reference in SOT-23 |
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