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参数资料
| 型号： | HM66WP18513BP-65 |
| 元件分类： | SRAM |
| 英文描述： | 512K X 18 ZBT SRAM, 6.5 ns, PBGA119 |
| 封装： | BGA-119 |
| 文件页数： | 17/31页 |
| 文件大小： | 268K |
| 代理商： | HM66WP18513BP-65 |
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HM66WP18513, HM66WP36257
Rev.0.3, Mar. 2002, page 24 of 31
TAP AC Operating Characteristics
(Ta = 0°C to
+70°C)
Parameter
Symbol
Min
Max
Unit
Note
Test Clock Cycle Time
t
THTH
20
—
ns
Test Clock High Pulse Width
t
THTL
8
—
ns
Test Clock Low Pulse Width
t
TLTH
8
—
ns
Test Mode Select Setup
t
MVTH
5
—
ns
Test Mode Select Hold
t
THMX
5
—
ns
Capture Setup
t
CS
5
—
ns
1
Capture Hold
t
CH
5
—
ns
1
TDI Valid to TCK High
t
DVTH
5
—
ns
TCK High to TDI Don’t Care
t
THDX
5
—
ns
TCK Low to TDO Unknown
t
TLQX
0
—
ns
TCK Low to TDO Valid
t
TLQV
—
10
ns
Note:
1. t
CS + tCH defines the minimum pause in RAM I/O pad transitions to assure pad data capture.
TAP AC Test Conditions
(V
DD
= 3.3 V and 2.5V)
V
DD =3.3V
V
DD =2.5V
Temperature
0°C
≤ Ta ≤ 70°C0°C ≤ Ta ≤ 70°C
Input timing measurement reference Level
1.4 V
1.2 V
Input pulse levels
0 to 2.8 V
0 to 2.4 V
Input Rise/Fall Time(10% to 90%)
2.0 ns typical
Output timing measurement reference Level
1.4 V
1.2 V
Test load termination supply voltage (V
T)
1.4 V
1.2 V
Output Load
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DUT
Boundary Scan AC Test Load
TDO
Z0=50
50
VT
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