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参数资料
| 型号： | IDT70T631S |
| 厂商： | Integrated Device Technology, Inc. |
| 英文描述： | 122 x 32 pixel format, Compact LCD size |
| 中文描述： | 高速2.5V的512/256K与3.3V 5011 2.5V的接口× 18 ASYNCHRONO美国双端口静态RAM |
| 文件页数： | 10/27页 |
| 文件大小： | 342K |
| 代理商： | IDT70T631S |
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IDT70T633/1S
High-Speed 2.5V 512/256K x 18 Asynchronous Dual-Port Static RAM Industrial and Commercial Temperature Ranges
AC Test Conditions
(V
DDQ
= 3.3V/2.5V)
Input Pulse Levels
GND to 3.0V / GND to 2.5V
Preliminary
10
Figure 1. AC Output Test load.
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
2ns Max.
1.5V/1.25V
1.5V/1.25V
Figure 1
5670 tbl 11
1.5V/1.25
50
50
5670 drw 03
10pF
(Tester)
DATA
OUT
,
5670 drw 04
20
40
60
80
100
120
140
0
160
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
Capacitance (pF) from AC Test Load
t
AA
/
t
ACE
(Typical, ns)
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
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