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参数资料
| 型号： | PM73487-PI |
| 厂商： | PMC-SIERRA INC |
| 元件分类： | 数字传输电路 |
| 英文描述： | 622 Mbps ATM Traffic Management Device |
| 中文描述： | ATM/SONET/SDH SUPPORT CIRCUIT, PBGA503 |
| 封装： | EPBGA-503 |
| 文件页数： | 85/251页 |
| 文件大小： | 3126K |
| 代理商： | PM73487-PI |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页当前第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页第200页第201页第202页第203页第204页第205页第206页第207页第208页第209页第210页第211页第212页第213页第214页第215页第216页第217页第218页第219页第220页第221页第222页第223页第224页第225页第226页第227页第228页第229页第230页第231页第232页第233页第234页第235页第236页第237页第238页第239页第240页第241页第242页第243页第244页第245页第246页第247页第248页第249页第250页第251页
PM73487 QRT
PMC-Sierra, Inc.
PMC-980618
Issue 3
622 Mbps ATMTraffic Management Device
Released
Datasheet
73
4.3.10
Boundary Scan Signals
Table 18. Test Signals (8 Signal Pins)
Signal Name
Ball
Type
Drive/Input
Level
Slew
Rate
Description
/JTAG_RESET
C4
In
CMOS
JTAG Reset
is an active low, true asynchronous reset to the
JTAG controller.
JTAG_TCK
B5
In
CMOS
Scan Test Clock
is an independent clock used to drive the inter-
nal boundary scan test logic. Connect this signal to VDD
through a pull-up resistor.
JTAG_TDI
B4
In
CMOS
Scan Test Data Input
is the serial input for boundary scan test
data and instruction bits. Connect this signal to VDD through a
pull-up resistor.
JTAG_TDO
B3
Out
4 ma
Mod
Scan Test Data Output
is the serial output for boundary scan
test data.
JTAG_TMS
C5
In
CMOS
Scan Test Mode Select
controls the operation of the boundary
scan test logic. Connect this signal to VDD through a pull-up
resistor.
/TEST_MODE
D4
In
CMOS
This is a manufacturing test mode bit for manufacturing test. It
MUST be pulled up for functional mode on the board.
/SCAN_EN
E7
In
CMOS
Scan Test Enable
is used to enable the internal scan test logic.
Connect this signal to VDD through a pull-up resistor.
PROC_MON
T26
Out
N/A
N/A
Process Monitor
is used for manufacturing test. It is connected
to a NAND tree that may be used for VIL/VIH testing.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| PM73487 | 622 Mbps ATM Traffic Management Device |
| PM73488-PI | 5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM73488 | 5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM7349 | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| PM7350 | Dual Serial Link, PHY Multiplexer |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| PM73488 | 制造商:PMC 制造商全称:PMC 功能描述:5 Gbit/s ATM Switch Fabric Element |
| PM73488PI | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Telecommunication IC |
| PM73488-PI | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: 制造商:PMC-Sierra 功能描述: |
| PM7349 | 制造商:PMC 制造商全称:PMC 功能描述:Quad J2, E3 and DS-3 Framer |
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