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参数资料
| 型号： | S29CD016G0MFAN002 |
| 厂商： | SPANSION LLC |
| 元件分类： | PROM |
| 英文描述： | 16 Megabit (512 K x 32-Bit) CMOS 2.5 Volt-only Burst Mode, Dual Boot, Simultaneous Read/Write Flash Memory |
| 中文描述： | 512K X 32 FLASH 2.7V PROM, 64 ns, PBGA80 |
| 封装： | 13 X 11 MM, 1 MM PITCH, FORTIFIED, BGA-80 |
| 文件页数： | 61/81页 |
| 文件大小： | 1276K |
| 代理商： | S29CD016G0MFAN002 |
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62
S29CD-G Flash Family
S29CD-G_00_B1 March 3, 2009
Data
Sheet
(Pre limin ar y)
20. Test Conditions
Figure 20.1 Test Setup
Note
Diodes are IN3064 or equivalent.
21. Test Specifications
22. Key to Switching Waveforms
23. Switching Waveforms
Figure 23.1 Input Waveforms and Measurement Levels
CL
Device
Under
Test
Table 21.1 Test Specifications
Test Condition
40 MHz, 56 MHz
66 MHz, 75MHz
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, CL (including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
5
ns
Input Pulse Levels
0.0 V – VIO
V
Input timing measurement reference levels
VIO/2
Output timing measurement reference levels
VIO/2
Table 1:
Waveform
Inputs
Outputs
Steady
Changing from H to L
Changing from L to H
Don’t Care, Any Change Permitted
Changing, State Unknown
Does Not Apply
Center Line is High Impedance State (High Z)
VIO
VSS
VIO/2 V
Output
Measurement Level
Input
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PDF描述 |
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参数描述 |
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