参数资料
型号: SPC563M60L5CPAY
厂商: STMICROELECTRONICS
元件分类: 微控制器/微处理器
英文描述: 32-BIT, FLASH, 80 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144
封装: 20 X 20 MM, LEAD FREE, LQFP-144
文件页数: 6/140页
文件大小: 1310K
代理商: SPC563M60L5CPAY
Electrical characteristics
SPC563M64
103/140
Doc ID 14642 Rev 6
3.16
AC timing
3.16.1
IEEE 1149.1 interface timing
Figure 8.
JTAG test clock input timing
Table 35.
JTAG pin AC electrical characteristics(1)
1.
JTAG timing specified at VDD = 1.14 V to 1.32 V, VDDEH = 4.5 V to 5.25 V with multi-voltage pads programmed to Low-
Swing mode, TA = TL to TH, and CL = 30 pF with DSC = 0b10, SRC = 0b00. These specifications apply to JTAG boundary
scan only. See Table 36 for functional specifications.
#
Symbol
C
Characteristic
Min.
Value
Max.
Value
Unit
1tJCYC
CC
D
TCK Cycle Time
100
ns
2tJDC
CC
D
TCK Clock Pulse Width
40
60
ns
3tTCKRISE
CC
D
TCK Rise and Fall Times (40% – 70%)
3
ns
4tTMSS, tTDIS
CC
D
TMS, TDI Data Setup Time
5
ns
5tTMSH, tTDIH
CC
D
TMS, TDI Data Hold Time
25
ns
6tTDOV
CC
D
TCK Low to TDO Data Valid
23
ns
7tTDOI
CC
D
TCK Low to TDO Data Invalid
0
ns
8tTDOHZ
CC
D
TCK Low to TDO High Impedance
20
ns
9tJCMPPW
CC
D
JCOMP Assertion Time
100
ns
10
tJCMPS
CC
D
JCOMP Setup Time to TCK Low
40
ns
11
tBSDV
CC
D
TCK Falling Edge to Output Valid
50
ns
12
tBSDVZ
CC
D
TCK Falling Edge to Output Valid out of High
Impedance
—50
ns
13
tBSDHZ
CC
D
TCK Falling Edge to Output High Impedance
50
ns
14
tBSDST
CC
D
Boundary Scan Input Valid to TCK Rising
Edge
50
ns
15
tBSDHT
CC
D
TCK Rising Edge to Boundary Scan Input
Invalid
50
ns
TCK
1
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