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参数资料
| 型号： | SPC563M60L5CPAY |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, 80 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144 |
| 封装： | 20 X 20 MM, LEAD FREE, LQFP-144 |
| 文件页数： | 72/140页 |
| 文件大小： | 1310K |
| 代理商： | SPC563M60L5CPAY |
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Overview
SPC563M64
Doc ID 14642 Rev 6
●
17-pin Full Port interface in calibration tool calibration package
–3.3 V interface
–
Auxiliary Output port
1 MCKO (message clock out) pin
4 (reduced port mode) or 12 (full port mode) MDO (message data out) pins; 8
extra full port pins shared with calibration bus
2 MSEO (message start/end out) pins
1 EVTO (event out) pin
–
Auxiliary input port
1 EVTI (event in) pin
●
Host processor (e200) development support features
–
IEEE-ISTO 5001-2003 standard class 2 compliant
–
Program trace via branch trace messaging (BTM). Branch trace messaging
displays program flow discontinuities (direct branches, indirect branches,
exceptions, etc.), allowing the development tool to interpolate what transpires
between the discontinuities. Thus, static code may be traced.
–
Watchpoint trigger enable of program trace messaging
–
Data Value Breakpoints (JTAG feature of the e200z335 core): allows CPU to be
halted when the CPU writes a specific value to a memory location
4 data value breakpoints
CPU only
Detects ‘equal’ and ‘not equal’
Byte, half word, word (naturally aligned)
Note:
This feature is imprecise due to CPU pipelining.
–
Subset of Power Architecture Technology software debug facilities with OnCE
block (Nexus class 1 features)
●
eTPU development support features
–
IEEE-ISTO 5001-2003 standard class 1 compliant for the eTPU
–
Nexus based breakpoint configuration and single step support (JTAG feature of
the eTPU)
●
Run-time access to the on-chip memory map via the Nexus read/write access protocol.
This feature supports accesses for run-time internal visibility, calibration variable
acquisition, calibration constant tuning, and external rapid prototyping for powertrain
automotive development systems.
●
All features are independently configurable and controllable via the IEEE 1149.1 I/O
port
●
Power-on-reset status indication during reset via MDO[0] in disabled and reset modes
JTAG
The JTAGC (JTAG Controller) block provides the means to test chip functionality and
connectivity while remaining transparent to system logic when not in test mode. Testing is
performed via a boundary scan technique, as defined in the IEEE 1149.1-2001 standard. All
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| SPC563M64AVB176 | 功能描述:32位微控制器 - MCU Vertical base brd SPC563M64 QFP176 RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
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| SPC563M64CAL176 | 功能描述:32位微控制器 - MCU Calibration system SPC563M64 QFP176 RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
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