参数资料
型号: LC5768VG-10F484I
厂商: LATTICE SEMICONDUCTOR CORP
元件分类: PLD
中文描述: EE PLD, 10 ns, PBGA484
封装: FBGA-484
文件页数: 22/48页
文件大小: 237K
代理商: LC5768VG-10F484I
Lattice Semiconductor
ispMACH 5000VG Family Data Sheet
29
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The specic values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 3.
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards. For further details,
please refer to the following technical note:
ispMACH 5000VG sysIO Design and Usage Guidelines (TN1000)
Table 3. Test Fixture Required Components
Test Condition
R1
R2
CL
Timing Ref.
VCCO
Default LVCMOS 3.3 I/O (L -> H, H -> L)
110
35pF
1.5
3.0V
Other LVCMOS Settings, (L -> H, H -> L)
∞∞
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = VCCO/2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = VCCO/2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
Default LVCMOS 3.3 I/O (Z -> H)
110
35pF
1.5V
3.0V
Default LVCMOS 3.3 I/O (Z -> L)
110
35pF
1.5V
3.0V
Default LVCMOS 3.3 I/O (H -> Z)
110
5pF
VOH - 0.3
3.0V
Default LVCMOS 3.3 I/O (L -> Z)
110
5pF
VOL + 0.3
3.0V
VCCO
R1
R2
CL*
DUT
Test
Point
*CL includes Test Fixture and Probe Capacitance.
0213A/ispm5kvg
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PDF描述
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