参数资料
型号: CY7C1248KV18-400BZXC
厂商: CYPRESS SEMICONDUCTOR CORP
元件分类: SRAM
英文描述: 2M X 18 DDR SRAM, 0.45 ns, PBGA165
封装: 13 X 15 MM, 1.40 MM HEIGHT, LEAD FREE, MO-216, FBGA-165
文件页数: 9/28页
文件大小: 907K
代理商: CY7C1248KV18-400BZXC
CY7C1246KV18, CY7C1257KV18
CY7C1248KV18, CY7C1250KV18
Document Number: 001-57834 Rev. *B
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TAP AC Switching Characteristics
Over the Operating Range [16, 17]
Parameter
Description
Min
Max
Unit
tTCYC
TCK clock cycle time
50
ns
tTF
TCK clock frequency
20
MHz
tTH
TCK clock HIGH
20
ns
tTL
TCK clock LOW
20
ns
Setup Times
tTMSS
TMS set-up to TCK clock rise
5
ns
tTDIS
TDI set-up to TCK clock rise
5
ns
tCS
Capture set-up to TCK rise
5
ns
Hold Times
tTMSH
TMS hold after TCK clock rise
5
ns
tTDIH
TDI hold after clock rise
5
ns
tCH
Capture hold after clock rise
5
ns
Output Times
tTDOV
TCK clock LOW to TDO valid
10
ns
tTDOX
TCK clock LOW to TDO invalid
0
ns
TAP Timing and Test Conditions
Figure 2 shows the TAP timing and test conditions. [17]
Figure 2. TAP Timing and Test Conditions
tTL
tTH
(a)
TDO
CL = 20 pF
Z0 = 50
GND
0.9V
50
1.8V
0V
ALL INPUT PULSES
0.9V
Test Clock
Test Mode Select
TCK
TMS
Test Data In
TDI
Test Data Out
tTCYC
tTMSH
tTMSS
tTDIS
tTDIH
tTDOV
tTDOX
TDO
Notes
16. tCS and tCH refer to the setup and hold time requirements of latching data from the boundary scan register.
17. Test conditions are specified using the load in TAP AC Test Conditions. tR/tF = 1 ns.
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