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参数资料
| 型号： | TSX68C000MCB/C12.5A |
| 厂商： | E2V TECHNOLOGIES PLC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, 12.5 MHz, MICROPROCESSOR, CDIP64 |
| 封装： | CERAMIC, SDIP-64 |
| 文件页数： | 8/54页 |
| 文件大小： | 901K |
| 代理商： | TSX68C000MCB/C12.5A |
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16
0853B–HIREL–09/07
TS68C000
e2v semiconductors SAS 2007
Note:
* Algebraic values
** Measurement method: see “General Requirements” on page 14 and “Test Conditions Specific to the Device” on page 27
Referred notes are given on Section 2.6.1.1 on page 26.
11
I
OHZ
High level output
3-state leakage current
VCC = 5.5V
25
°C
20
A
max
VOH = 2.4V
min
12
I
OLZ
Low level output
3-state leakage current
VCC = 5.5V
25
°C
20
A
max
VOL = 0.4V
min
13
V
IH
High level input
voltage for all inputs
VCC = 4.5V
25
°C
2.0
V
max
VCC = 5.5V
min
14
V
IL
Low level input
voltage for all inputs
VCC = 4.5V
25
°C0.8
V
max
0.8
V
VCC = 5.5V
min
0.8
V
14A
C
IN
Input capacitance
(all inputs)
11
Reverse
voltage = 0V
f = 1.0 MHz
25
°C25
pF
max
NA
pF
min
NA
pF
14B
C
OUT
Output capacitance
(all inputs)
11
Reverse
voltage = 0V
f = 1.0 MHz
25
°C20
pF
max
NA
pF
min
NA
pF
14C
VTEST
Internal protection
Transient energy rating
See note(9)
5 cycles
25
°C
-500
+500
V
Table 2-4.
Static Characteristics (Continued)
V
CC = 5.0V VDC ± 10%; GND = 0 VDC; Tc = -55/+125°C and -40°C/+85°C
Test
Number
Symbol
Parameter
Ref
Number
(**)
Test
Conditions
Test
Temperature
Limits
Unit
Min
(*)
Max (*)
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