参数资料
| 型号： | DS2154LNA2+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 121/124页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TXRX E1 5V 100-LQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 90 |
| 类型： | 收发器 |
| 驱动器/接收器数： | 1/1 |
| 规程： | E1 |
| 电源电压： | 4.75 V ~ 5.25 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-LQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
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DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
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rising edge of JTCLK following entry into the Capture-DR state. Shift-DR can be used to shift the
identification code out serially via JTDO. During Test-Logic-Reset, the identification code is forced into
the instruction register’s parallel output. The ID code will always have a one in the LSB position. The
next 11 bits identify the manufacturer’s JEDEC number and number of continuation bytes followed by 16
bits for the device and 4 bits for the version. See Table 16-2. Table 16-3 lists the device ID codes for the
SCT devices.
Table 16-2. ID Code Structure
MSB
LSB
Version
Contact Factory
Device ID
JEDEC
1
4 bits
16 bits
00010100001
1
Table 16-3. Device ID Codes
DEVICE
16-BIT ID
DS21354
0005h
DS21554
0003h
DS21352
0004h
DS21552
0002h
16.2.
Test Registers
IEEE 1149.1 requires a minimum of two test registers; the bypass register and the boundary scan register.
An optional test register has been included with the DS21354/554 design. This test register is the
identification register and is used in conjunction with the IDCODE instruction and the Test-Logic-Reset
state of the TAP controller.
Boundary Scan Register
This register contains both a shift register path and a latched parallel output for all control cells and
digital I/O cells and is n bits in length. See Table 16-4 for all the cell bit locations and definitions.
Bypass Register
This is a single one-bit shift register used in conjunction with the BYPASS, CLAMP, and HIGHZ
instructions that provides a short path between JTDI and JTDO.
Identification Register
The identification register contains a 32-bit shift register and a 32-bit latched parallel output. This register
is selected during the IDCODE instruction and when the TAP controller is in the Test-Logic-Reset state.
See Table 16-3 and Table 16-4 for more information on bit usage.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| DS2154L | IC TXRX E1 1CHIP 5V ENH 100-LQFP |
| DS2155LN | IC TXRX T1/E1/J1 1-CHIP 100-LQFP |
| DS2156LN+ | IC TXRX T1/E1/J1 1-CHIP 100-LQFP |
| DS2172T/T&R | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| DS2174QN+ | IC BERT ENHANCED 44-PLCC |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| DS2154LNA2+ | 功能描述:网络控制器与处理器 IC Enhanced E1 Transceiver RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS2154LND2 | 功能描述:网络控制器与处理器 IC RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS2154LND2+ | 制造商:Maxim Integrated Products 功能描述:ENHANCED E1 SCT LQFP REVD2 IND LF - Rail/Tube |
| DS2155 | 制造商:DALLAS 制造商全称:Dallas Semiconductor 功能描述:T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface |
| DS2155_06 | 制造商:DALLAS 制造商全称:Dallas Semiconductor 功能描述:T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver |
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