参数资料
型号: LFX200EB-03F256C
厂商: Lattice Semiconductor Corporation
文件页数: 80/119页
文件大小: 0K
描述: IC FPGA 200K GATES 256-BGA
标准包装: 90
系列: ispXPGA®
逻辑元件/单元数: 2704
RAM 位总计: 113664
输入/输出数: 160
门数: 210000
电源电压: 2.3 V ~ 3.6 V
安装类型: 表面贴装
工作温度: 0°C ~ 85°C
封装/外壳: 256-BGA
供应商设备封装: 256-FPBGA(17x17)
Lattice Semiconductor
ispXPGA Family Data Sheet
59
Switching Test Conditions
Figure 25 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 7.
Figure 25. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 7. Text Fixture Required Components
Test Condition
R1
R2
CL
Timing Reference
VCCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
35pF
LVCMOS 3.3 = VCCO/2
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = VCCO/2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = VCCO/2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> H)
×
106
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> L)
106
×
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (H -> Z)
×
106
5pF
VOH - 0.3
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (L -> Z)
106
×
5pF
VOL + 0.3
1.65V
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
VCCO
R1
R2
CL*
Device
Output
*CL includes test fixture and probe capacitance.
Test
Point
SELECT
DEVICES
DISCONTINUED
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