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参数资料
| 型号： | MSC7119VM1200 |
| 厂商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | 数字信号处理 |
| 英文描述： | 0-BIT, 300 MHz, OTHER DSP, PBGA400 |
| 封装： | LEAD FREE, MAPBGA-400 |
| 文件页数： | 11/60页 |
| 文件大小： | 1138K |
| 代理商： | MSC7119VM1200 |
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Electrical Characteristics
MSC7119 Data Sheet, Rev. 8
Freescale Semiconductor
19
Table 4 describes thermal characteristics of the MSC7119 for the MAP-BGA package.
Section 3.1, Thermal Design Considerations explains these characteristics in detail.
This section describes the DC electrical characteristics for the MSC7119.
Note:
The leakage current is measured for nominal voltage values must vary in the same direction (for example, both VDDIO
and VDDC vary by +2 percent or both vary by –2 percent).
Table 4. Thermal Characteristics for MAP-BGA Package
Characteristic
Symbol
MAP-BGA 17
× 17 mm5
Unit
Natural
Convection
200 ft/min
(1 m/s) airflow
Junction-to-ambient1, 2
RθJA
39
31
°C/W
Junction-to-ambient, four-layer board1, 3
RθJA
23
20
°C/W
Junction-to-board4
RθJB
12
°C/W
Junction-to-case5
RθJC
7
°C/W
Junction-to-package-top6
ΨJT
2
°C/W
Notes:
1.
Junction temperature is a function of die size, on-chip power dissipation, package thermal resistance, mounting site (board)
temperature, ambient temperature, air flow, power dissipation of other components on the board, and board thermal
resistance.
2.
Per SEMI G38-87 and JEDEC JESD51-2 with the single layer board horizontal.
3.
Per JEDEC JESD51-6 with the board horizontal.
4.
Thermal resistance between the die and the printed circuit board per JEDEC JESD 51-8. Board temperature is measured on
the top surface of the board near the package.
5.
Thermal resistance between the die and the case top surface as measured by the cold plate method (MIL SPEC-883 Method
1012.1).
6.
Thermal characterization parameter indicating the temperature difference between package top and the junction temperature
per JEDEC JESD51-2.
Table 5. DC Electrical Characteristics
Characteristic
Symbol
Min
Typical
Max
Unit
Core and PLL voltage
VDDC
VDDPLL
1.14
1.2
1.26
V
DRAM interface I/O voltage1
VDDM
2.375
2.5
2.625
V
I/O voltage
VDDIO
3.135
3.3
3.465
V
DRAM interface I/O reference voltage2
VREF
0.49
× VDDM
1.25
0.51
× VDDM
V
DRAM interface I/O termination voltage3
VTT
VREF – 0.04
VREF
VREF + 0.04
V
Input high CLKIN voltage
VIHCLK
2.4
3.0
3.465
V
DRAM interface input high I/O voltage
VIHM
VREF + 0.28
VDDM
VDDM + 0.3
V
DRAM interface input low I/O voltage
VILM
–0.3
GND
VREF – 0.18
V
Input leakage current, VIN = VDDIO
IIN
–1.0
0.09
1
A
VREF input leakage current
IVREF
——
5
A
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