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参数资料
| 型号： | RM48L950PGET |
| 厂商： | TEXAS INSTRUMENTS INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, 200 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP144 |
| 封装： | GREEN, PLASTIC, LQFP-144 |
| 文件页数： | 136/154页 |
| 文件大小： | 2807K |
| 代理商： | RM48L950PGET |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页当前第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页
PRODUCTPREVIEW
SPNS174
– SEPTEMBER 2011
4.13 On-Chip SRAM Initialization and Testing
4.13.1 On-Chip SRAM Self-Test Using PBIST
4.13.1.1 Features
Extensive instruction set to support various memory test algorithms
ROM-based algorithms allow application to run TI production-level memory tests
Independent testing of all on-chip SRAM
4.13.1.2 PBIST RAM Groups
Table 4-25. PBIST RAM Grouping
Test Pattern (Algorithm)
March 13N(1)
triple read
two port
single port
Memory
RAM Group
Test Clock
MEM Type
slow read
fast read
(cycles)
ALGO MASK
0x1
0x2
0x4
0x8
PBIST_ROM
1
ROM CLK
ROM
X
STC_ROM
2
ROM CLK
ROM
X
DCAN1
3
VCLK
Dual Port
25200
DCAN2
4
VCLK
Dual Port
25200
DCAN3
5
VCLK
Dual Port
25200
ESRAM1
6
HCLK
Single Port
266280
MIBSPI1
7
VCLK
Dual Port
33440
MIBSPI3
8
VCLK
Dual Port
33440
MIBSPI5
9
VCLK
Dual Port
33440
VIM
10
VCLK
Dual Port
12560
MIBADC1
11
VCLK
Dual Port
4200
DMA
12
HCLK
Dual Port
18960
N2HET1
13
VCLK
Dual Port
31680
HET TU1
14
VCLK
Dual Port
6480
RTP
15
HCLK
Dual Port
37800
MIBADC2
18
VCLK
Dual Port
4200
N2HET2
19
VCLK
Dual Port
31680
HET TU2
20
VCLK
Dual Port
6480
ESRAM5
21
HCLK
Single Port
266280
ESRAM6
22
HCLK
Single Port
266280
23
8700
Dual Port
ETHERNET
24
VCLK3
6360
25
Single Port
133160
26
Dual Port
4240
USB
VCLK3
27
Single Port
66600
ESRAM8
28
HCLK
Single Port
266280
(1)
There are several memory testing algorithms stored in the PBIST ROM. However, TI recommends the March13N algorithm for
application testing.
The PBIST ROM clock frequency is limited to 100MHz, if 100MHz
< HCLK <= HCLKmax, or HCLK, if
HCLK
<= 100MHz.
The PBIST ROM clock is divided down from HCLK. The divider is selected by programming the ROM_DIV
field of the Memory Self-Test Global Control Register (MSTGCR) at address 0xFFFFFF58.
82
System Information and Electrical Specifications
Copyright
2011, Texas Instruments Incorporated
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PDF描述 |
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