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参数资料
型号： XCV300E-6FG456C
厂商： Xilinx Inc
文件页数： 203/233页
文件大小： 0K
描述： IC FPGA 1.8V C-TEMP 456-FBGA
产品变化通告： FPGA Family Discontinuation 18/Apr/2011
标准包装： 60
系列： Virtex®-E
LAB/CLB数： 1536
逻辑元件/单元数： 6912
RAM 位总计： 131072
输入/输出数： 312
门数： 411955
电源电压： 1.71 V ~ 1.89 V
安装类型： 表面贴装
工作温度： 0°C ~ 85°C
封装/外壳： 456-BBGA
供应商设备封装： 456-FBGA
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Virtex-E 1.8 V Field Programmable Gate Arrays
R
DS022-3 (v3.0) March 21, 2014
www.xilinx.com
Module 3 of 4
Production Product Specification
11
— OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE —
Calculation of Tioop as a Function of Capacitance
Tioop is the propagation delay from the O Input of the IOB to
the pad. The values for Tioop are based on the standard
capacitive load (Csl) for each I/O standard as listed in
Table 3.
For other capacitive loads, use the formulas below to calcu-
late the corresponding Tioop:
Tioop = Tioop + Topadjust + (Cload – Csl) * fl
where:
Topadjust is reported above in the Output Delay
Adjustment section.
Cload is the capacitive load for the design.
Table 3: Constants for Use in Calculation of Tioop
Standard
Csl (pF)
fl (ns/pF)
LVTTL Fast Slew Rate, 2mA drive
35
0.41
LVTTL Fast Slew Rate, 4mA drive
35
0.20
LVTTL Fast Slew Rate, 6mA drive
35
0.13
LVTTL Fast Slew Rate, 8mA drive
35
0.079
LVTTL Fast Slew Rate, 12mA drive
35
0.044
LVTTL Fast Slew Rate, 16mA drive
35
0.043
LVTTL Fast Slew Rate, 24mA drive
35
0.033
LVTTL Slow Slew Rate, 2mA drive
35
0.41
LVTTL Slow Slew Rate, 4mA drive
35
0.20
LVTTL Slow Slew Rate, 6mA drive
35
0.10
LVTTL Slow Slew Rate, 8mA drive
35
0.086
LVTTL Slow Slew Rate, 12mA drive
35
0.058
LVTTL Slow Slew Rate, 16mA drive
35
0.050
LVTTL Slow Slew Rate, 24mA drive
35
0.048
LVCMOS2
35
0.041
LVCMOS18
35
0.050
PCI 33 MHZ 3.3 V
10
0.050
PCI 66 MHz 3.3 V
10
0.033
GTL
0
0.014
GTL+
0
0.017
HSTL Class I
20
0.022
HSTL Class III
20
0.016
HSTL Class IV
20
0.014
SSTL2 Class I
30
0.028
SSTL2 Class II
30
0.016
SSTL3 Class I
30
0.029
SSTL3 Class II
30
0.016
CTT
20
0.035
AGP
10
0.037
Notes:
1.
I/O parameter measurements are made with the capacitance
values shown above. See the application examples (in
Module 2 of this data sheet) for appropriate terminations.
2.
I/O standard measurements are reflected in the IBIS model
information except where the IBIS format precludes it.
Table 4: Delay Measurement Methodology
Standard
VL1
VH1
Meas.
Point
VREF
(Typ)2
LVTTL
0
3
1.4
-
LVCMOS2
0
2.5
1.125
-
PCI33_3
Per PCI Spec
-
PCI66_3
Per PCI Spec
-
GTL
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
0.80
GTL+
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
1.0
HSTL Class I
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.75
HSTL Class III
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
HSTL Class IV
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
SSTL3 I & II
VREF –1.0
VREF +1.0
VREF
1.5
SSTL2 I & II
VREF –0.75
VREF +0.75
VREF
1.25
CTT
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
1.5
AGP
VREF –
(0.2xVCCO)
VREF +
(0.2xVCCO)
VREF
Per
AGP
Spec
LVDS
1.2
–0.125
1.2 + 0.125
1.2
LVPECL
1.6
–0.3
1.6 + 0.3
1.6
Notes:
1.
Input waveform switches between VLand VH.
2.
Measurements are made at VREF (Typ), Maximum, and
Minimum. Worst-case values are reported.
I/O parameter measurements are made with the
capacitance values shown in Table 3. See the application
examples (in Module 2 of this data sheet) for appropriate
terminations.
I/O standard measurements are reflected in the IBIS model
information except where the IBIS format precludes it.
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