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参数资料
| 型号： | DS3148N |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 69/89页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC 8CH DS3/3 FRAMER 349-BGA |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 1 |
| 控制器类型： | DS3/E3 调帧器 |
| 接口： | LIU |
| 电源电压： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 电流 - 电源： | 640mA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 349-BGA 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 349-HCBGA（27x27） |
| 包装： | 托盘 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页当前第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页
DS3146/DS3146/DS31412 6-/8-/12-Channel DS3/E3 Framers
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Figure 9-2. JTAG TAP Controller State Machine
Select-DR-Scan. All test registers retain their previous state. With JTMS low, a rising edge of JTCLK moves the
controller into the Capture-DR state and initiates a scan sequence. JTMS high moves the controller to the Select-
IR-SCAN state.
Capture-DR. Data can be parallel loaded into the test data registers selected by the current instruction. If the
instruction does not call for a parallel load or the selected register does not allow parallel loads, the test register
remains at its current value. On the rising edge of JTCLK, the controller goes to the Shift-DR state if JTMS is low or
to the Exit1-DR state if JTMS is high.
Shift-DR. The test data register selected by the current instruction is connected between JTDI and JTDO and shifts
data one stage toward its serial output on each rising edge of JTCLK. If a test register selected by the current
instruction is not placed in the serial path, it maintains its previous state.
Exit1-DR. While in this state, a rising edge on JTCLK with JTMS high puts the controller in the Update-DR state,
which terminates the scanning process. A rising edge on JTCLK with JTMS low puts the controller in the Pause-DR
state.
Pause-DR. Shifting of the test registers is halted while in this state. All test registers selected by the current
instruction retain their previous state. The controller remains in this state while JTMS is low. A rising edge on
JTCLK with JTMS high puts the controller in the Exit2-DR state.
Test-Logic-Reset
Run-Test/Idle
Select
DR-Scan
1
0
Capture-DR
1
0
Shift-DR
0
1
Exit1- DR
1
0
Pause-DR
1
Exit2-DR
1
Update-DR
0
1
Select
IR-Scan
1
0
Capture-IR
0
Shift-IR
0
1
Exit1-IR
1
0
Pause-IR
1
Exit2-IR
1
Update-IR
0
1
0
1
0
1
0
1
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