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参数资料
| 型号： | DSPB56364AF100 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 57/148页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DSP 24BIT AUD 100MHZ 100-LQFP |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | DSP56K/Symphony |
| 类型： | 音频处理器 |
| 接口： | 主机接口，I²C，SAI，SPI |
| 时钟速率： | 100MHz |
| 非易失内存： | ROM（24 kB） |
| 芯片上RAM： | 11.25kB |
| 电压 - 输入/输出： | 3.30V |
| 电压 - 核心： | 3.30V |
| 工作温度： | -40°C ~ 105°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-LQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
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JTAG/OnCE Interface
DSP56364 Technical Data, Rev. 4.1
2-12
Freescale Semiconductor
2.9
JTAG/OnCE Interface
Table 2-11 JTAG/OnCE Interface
Signal
Name
Signal
Type
State During
Reset
Signal Description
TCK
Input
Test Clock—TCK is a test clock input signal used to synchronize the JTAG test logic.
It has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TDI
Input
Test Data Input—TDI is a test data serial input signal used for test instructions and
data. TDI is sampled on the rising edge of TCK and has an internal pull-up resistor.
This input is 5 V tolerant.
TDO
Output
Tri-stated
Test Data Output—TDO is a test data serial output signal used for test instructions and
data. TDO is tri-statable and is actively driven in the shift-IR and shift-DR controller
states. TDO changes on the falling edge of TCK.
TMS
Input
Test Mode Select—TMS is an input signal used to sequence the test controller’s state
machine. TMS is sampled on the rising edge of TCK and has an internal pull-up
resistor.
This input is 5 V tolerant.
Table 2-12 GPIO Signals
Signal
Name
Signal Type
State During
Reset
Signal Description
GPIO0–
GPIO3
Input, output or
disconnected
Disconnected
GPIO0–3—The General Purpose I/O pins are used for control and
handshake functions between the DSP and external circuitry. Each Port B
GPIO pin may be individually programmed as an input, output or
disconnected
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