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参数资料
| 型号： | HY27SS16561M-FCP |
| 厂商： | HYNIX SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | PROM |
| 英文描述： | 16M X 16 FLASH 1.8V PROM, 10000 ns, PBGA63 |
| 封装： | 9 X 11 MM, 1.20 MM HEIGHT, 0.80 MM PITCH, FBGA-63 |
| 文件页数： | 24/44页 |
| 文件大小： | 644K |
| 代理商： | HY27SS16561M-FCP |
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Rev 0.4 / Jun. 2004
30
Preliminary
HY27SS(08/16)561M Series
HY27US(08/16)561M Series
256Mbit (32Mx8bit / 16Mx16bit) NAND Flash
Note: (1). The time to Ready depends on the value of the pull-up resistor tied to the Ready/Busy pin. See Figures 32, 33 and 34.
(2). To break the sequential read cycle, CE must be held High for longer than tEHEL.
(3). ES = Electronic Signature.
tRLQV
tREA
Read Enable Low to Output Valid
Read Enable Access time
Max
35
ns
tREADID
Read ES Access time
tWHBH
tR
Write Enable High to Ready/Busy High
Max
10
us
tWHBL
tWB
Write Enable High to Ready/Busy Low
Max
100
ns
tWHRL
tWHR
Write Enable High to Read Enable Low
Min
60
ns
tWLWL
tWC
Write Enable Low to Write
Enable Low
Write Cycle time
Min
50
60
ns
Alt.
Sym-
bol
Sym-
bol
Parameter
3.3V
Device
1.8V
Device
Unit
Figure 21. Command Latch AC Waveforms
Command
tCLHWL
(CLE Setup time)
tHWCLL
(CLE Hold time)
tELWL
(CE Setup time)
tWHEH
(CE Hold time)
tWLWH
tALLWL
(ALE Setup time)
tWHALH
(ALE Hold time)
tDVWH
(Data Setup time)
tWHDX
(Data Hold time)
CLE
ALE
I/O
CE
WE
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| HY27SS561M | 制造商:HYNIX 制造商全称:Hynix Semiconductor 功能描述:256Mbit (32Mx8bit / 16Mx16bit) NAND Flash |
| HY27SSXXX | 制造商:HYNIX 制造商全称:Hynix Semiconductor 功能描述:512Mbit (64Mx8bit / 32Mx16bit) NAND Flash |
| HY27UA081G1M | 制造商:HYNIX 制造商全称:Hynix Semiconductor 功能描述:1Gbit (128Mx8bit / 64Mx16bit) NAND Flash Memory |
| HY27UA161G1M | 制造商:HYNIX 制造商全称:Hynix Semiconductor 功能描述:1Gbit (128Mx8bit / 64Mx16bit) NAND Flash Memory |
| HY27UA1G1M | 制造商:HYNIX 制造商全称:Hynix Semiconductor 功能描述:1Gbit (128Mx8bit / 64Mx16bit) NAND Flash Memory |
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