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参数资料
| 型号： | EP20K60EFC484-2 |
| 厂商： | ALTERA CORP |
| 元件分类： | PLD |
| 英文描述： | LOADABLE PLD, PBGA484 |
| 封装： | 23 X 23 MM, 1 MM PITCH, FINE LINE, BGA-484 |
| 文件页数： | 95/114页 |
| 文件大小： | 4116K |
| 代理商： | EP20K60EFC484-2 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页当前第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页
IGLOO nano DC and Switching Characteristics
Ad vance v0.2
2-67
Table 2-93 IGLOO nano CCC/PLL Specification
For IGLOO nano V2 Devices, 1.2 V DC Core Supply Voltage
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Units
Clock Conditioning Circuitry Input Frequency fIN_CCC
1.5
160
MHz
Clock Conditioning Circuitry Output Frequency fOUT_CCC
0.75
160
MHz
Delay Increments in Programmable Delay Blocks 1, 2
580
ps
Number of Programmable Values in Each Programmable Delay Block
32
Serial Clock (SCLK) for Dynamic PLL 5
60
MHz
Input Cycle-to-Cycle Jitter (peak magnitude)
0.25
ns
CCC Output Peak-to-Peak Period Jitter FCCC_OUT
Max Peak-to-Peak Period Jitter
1 Global
Network
Used
External
FB Used
3 Global
Networks
Used
0.75 MHz to 24 MHz
0.50%
0.75%
0.70%
24 MHz to 100 MHz
1.00%
1.50%
1.20%
100 MHz to 160 MHz
2.50%
3.75%
2.75%
Acquisition Time
LockControl = 0
300
s
LockControl = 1
6.0
ms
Tracking Jitter
LockControl = 0
4
ns
LockControl = 1
3
ns
Output Duty Cycle
48.5
51.5
%
Delay Range in Block: Programmable Delay 1 1, 2
2.3
20.86
ns
Delay Range in Block: Programmable Delay 2 1, 2,
0.025
20.86
ns
Delay Range in Block: Fixed Delay 1, 2
5.7
ns
Notes:
1. This delay is a function of voltage and temperature. See Table 2-6 on page 2-6 and Table 2-7 on page 2-7
for deratings.
2. TJ = 25°C, VCC = 1.2 V
3. The AGLN010, AGLN015, and AGLN020 devices do not support PLLs.
4. Tracking jitter is defined as the variation in clock edge position of PLL outputs with reference to PLL input
clock edge. Tracking jitter does not measure the variation in PLL output period, which is covered by period
jitter parameter.
5. Maximum value obtained for a STD speed grade device in Worst-Case Commercial conditions. For specific
junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-6 and Table 2-7 on page 2-7
for derating values.
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