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参数资料
| 型号： | LFXP2-17E-7F484C |
| 厂商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分类： | FPGA |
| 中文描述： | FPGA, 420 MHz, PBGA484 |
| 封装： | 23 X 23 MM, FPBGA-484 |
| 文件页数： | 73/92页 |
| 文件大小： | 1701K |
| 代理商： | LFXP2-17E-7F484C |
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3-31
DC and Switching Characteristics
Lattice Semiconductor
LatticeXP2 Family Data Sheet
FlashBAK Time (from EBR to Flash)
Over Recommended Operating Conditions
JTAG Port Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Device
EBR Density (Bits)
Time (Typ.)
Units
XP2-5
166K
1.5
s
XP2-8
221K
1.5
s
XP2-17
276K
1.5
s
XP2-30
387K
2.0
s
XP2-40
885K
3.0
s
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Units
fMAX
TCK Clock Frequency
—
25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
Timing v. A 0.12
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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| LFXP2-17E-7FT256C | 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 17KLUTs 201 I/O Inst -on DSP 1.2V -7 Spd RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256 |
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