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参数资料
| 型号： | OR4E063BM680-DB |
| 厂商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分类： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 2024 CLBS, 515000 GATES, PBGA680 |
| 封装： | PLASTIC, FBGA-680 |
| 文件页数： | 93/151页 |
| 文件大小： | 2680K |
| 代理商： | OR4E063BM680-DB |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页当前第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页
46
Lattice Semiconductor
Data Sheet
September, 2002
ORCA Series 4 FPGAs
Special Function Blocks (continued)
The MODE signal is generated from the decode of the instruction register. When the MODE signal is high
(EXTEST), the scan data is propagated to the output buffer. When the MODE signal is low (BYPASS or SAMPLE),
functional data from the FPGA’s internal logic is propagated to the output buffer.
The boundary-scan description language (BSDL) is provided for each device in the ORCA Series of FPGAs on the
ORCA Foundry CD. The BSDL is generated from a device prole, pinout, and other boundary-scan information.
5-2844(F).a
Figure 29. Boundary-Scan Cell
Boundary-Scan Timing
To ensure race-free operation, data changes on specic clock edges. The TMS and TDI inputs are clocked in on the
rising edge of TCK, while changes on TDO occur on the falling edge of TCK. In the execution of an EXTEST
instruction, parallel data is output from the BSR to the FPGA pads on the falling edge of TCK. The maximum fre-
quency allowed for TCK is 20 MHz.
Figure 30 shows timing waveforms for an instruction scan operation. The diagram shows the use of TMS to
sequence the TAPC through states. The test host (or BSM) changes data on the falling edge of TCK, and it is
clocked into the DUT on the rising edge.
D
Q
D
Q
D
Q
D
Q
P_OUT
HOLI
BIDIRECTIONAL DATA CELL
I/O BUFFER
DIRECTION CONTROL CELL
MODE
UPDATE/TCK
SCAN OUT
TCK
SHIFTN/CAPTURE
P_TS
P_IN
PAD_IN
PAD_TS
PAD_OUT
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
D
Q
D
Q
SCAN IN
0
1
CAPTURE CELL
INBS (TO FPGA ARRAY)
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PDF描述 |
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