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参数资料
| 型号： | ADP1043AFB100EVALZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 7/72页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVALUATION ADP1043A 100W |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 电源管理，电源监控器/跟踪器/序列发生器 |
| 已用 IC / 零件： | ADP1043A |
| 主要属性： | * |
| 次要属性： | * |
| 已供物品： | 板 |
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ADP1043A
Parameter
OTP Threshold Accuracy
Symbol
Test Conditions/Comments
When RTD = 10 kΩ
Min
?0.5
Typ
Max
+0.5
Unit
% FSR
?7.75
+7.75
mV
When RTD = 100 kΩ
?5
+5
% FSR
OTP Speed
?77.5
10
+77.5
mV
ms
OTP Threshold Hysteresis
When RTD = 10 kΩ
16
mV
PGOOD1, PGOOD2, SHAREo PINS
(OPEN DRAIN)
Output Low Voltage
V OL
0.4
V
PSON, FLAGIN, SHAREi PINS
(DIGITAL INPUTS)
Input Low Voltage
Input High Voltage
SDA/SCL PINS
Input Low Voltage
Input High Voltage
Output Low Voltage
V IL
V IH
V IL
V IH
V OL
V DD = 3.3 V
V DD ? 0.8
V DD ? 0.8
0.4
0.4
0.4
V
V
V
V
V
Leakage Current
?5
+5
μA
SERIAL BUS TIMING
Clock Frequency
Glitch Immunity
t SW
100
400
50
kHz
ns
Bus-Free Time
Start Setup Time
Start Hold Time
SCL Low Time
SCL High Time
SCL, SDA Rise Time
SCL, SDA Fall Time
Data Setup Time
Data Hold Time
t BUF
t SU;STA
t HD;STA
t LOW
t HIGH
t R
t F
t SU;DAT
t HD;DAT
4.7
4.7
4
4.7
4
250
300
1000
300
μs
μs
μs
μs
μs
ns
ns
ns
ns
EEPROM RELIABILITY
Endurance 1
10,000
Cycles
Data Retention 2
T J = 85°C
20
Years
1
2
Endurance is qualified as per JEDEC Standard 22, Method A117, and is measured at ?40°C, +25°C, +85°C, and +125°C.
Retention lifetime equivalent at junction temperature (T J ) = 85°C as per JEDEC Standard 22, Method A117. Retention lifetime derates with junction temperature.
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PDF描述 |
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