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参数资料
| 型号： | OR3T307S240-DB |
| 厂商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分类： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 196 CLBS, 48000 GATES, PQFP240 |
| 封装： | PLASTIC, SQFP-240 |
| 文件页数： | 156/203页 |
| 文件大小： | 1368K |
| 代理商： | OR3T307S240-DB |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页当前第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页第200页第201页第202页第203页
56
Lattice Semiconductor
Data Sheet
November 2006
ORCA Series 3C and 3T FPGAs
Special Function Blocks (continued)
5-6765(F)
Figure 37. Boundary-Scan Interface
D[7:0]
INTR
MICRO-
PROCESSOR
D[7:0]
CE
RA
R/W
DAV
INT
SP
TMS0
TCK
TDI
TDO
TDI
TMS
TCK
TDO
ORCA
SERIES
FPGA
TDI
ORCA
SERIES
FPGA
TMS
TCK
TDO
TDI
TMS
TCK
TDO
ORCA
SERIES
FPGA
BOUNDARY-
SCAN
MASTER
(BSM)
(DUT)
The boundary-scan support circuit shown in Figure 37
is the 497AA Boundary-Scan Master (BSM). The BSM
off-loads tasks from the test host to increase test
throughput. To interface between the test host and the
DUTs, the BSM has a general microprocessor interface
and provides parallel-to-serial/serial-to-parallel conver-
sion, as well as three 8K data buffers. The BSM also
increases test throughput with a dedicated automatic
test-pattern generator and with compression of the test
response with a signature analysis register. The PC-
based boundary-scan test card/software allows a user
to quickly prototype a boundary-scan test setup.
Boundary-Scan Instructions
The
ORCA Series boundary-scan circuitry is used for
three mandatory
IEEE 1149.1/D1 tests (EXTEST,
SAMPLE/PRELOAD, BYPASS), the optional
IEEE
1149.1/D1 IDCODE instruction, and ve
ORCA-dened
instructions. The 3-bit wide instruction register supports
the nine instructions listed in Table 13, where the use of
PSR1 or USERCODE is selectable by a bit stream
option.
Table 13. Boundary-Scan Instructions
Code
Instruction
000
EXTEST
001
PLC Scan Ring 1 (PSR1)/USERCODE
010
RAM Write (RAM_W)
011
IDCODE
100
SAMPLE/PRELOAD
101
PLC Scan Ring 2 (PSR2)
110
RAM Read (RAM_R)
111
BYPASS
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