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参数资料
| 型号： | PEF22508E |
| 厂商： | INFINEON TECHNOLOGIES AG |
| 元件分类： | 数字传输电路 |
| 英文描述： | DATACOM, PCM TRANSCEIVER, PBGA256 |
| 封装： | 17 X 17 MM, 1 MM PITCH, PLASTIC, LBGA-256 |
| 文件页数： | 142/193页 |
| 文件大小： | 10683K |
| 代理商： | PEF22508E |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页当前第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页
OctalLIU
TM
PEF 22508 E
Functional Description
Data Sheet
52
Rev. 1.0, 2005-06-02
Figure 15
Block Diagram of Test Access Port and Boundary Scan
After switching on the device (power-on), a reset signal has to be applied to TRS, which forces the TAP controller
into test logic reset state.
For normal operation without boundary scan access, the boundary reset pin TRS can be tied to the device reset
pin RES.
The boundary length is 247.
If no boundary scan operation is used, TRS has to be connected to RST or V
SS. TMS, TCK and TDI do not need
to be connected since pull-up transistors ensure high input levels in this case.
Test handling (boundary scan operation) is performed using the pins TCK (Test Clock), TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input) and TDO (Test Data Output) when the TAP controller is not in its reset state, that means
TRS is connected to V
DD or it remains unconnected due to its internal pull up. Test data at TDI is loaded with a
clock signal connected to TCK. "1" or "0" on TMS causes a transition from one controller state to another; constant
"1" on TMS leads to normal operation of the chip.
An input pin (I) uses one boundary scan cell (data in), an output pin (O) uses two cells (data out and enable) and
an I/O-pin (I/O) uses three cells (data in, data out and enable). Note that most functional output and input pins of
the OctalLIU
TM are tested as I/O pins in boundary scan, hence using three cells.
The desired test mode is selected by serially loading a 8-bit instruction code into the instruction register through
TDI (LSB first), see Table 10. The test modes are:
EXTEST
Extest is used to examine the interconnection of the devices on the board. In this test mode at first all input pins
capture the current level on the corresponding external interconnection line, whereas all output pins are held at
constant values ("0" or "1"). Then the contents of the boundary scan is shifted to TDO. At the same time the next
scan vector is loaded from TDI. Subsequently all output pins are updated according to the new boundary scan
contents and all input pins again capture the current external level afterwards, and so on.
F0115
TRS
TCK
TMS
TDI
TDO
clock
test
control
data in
enable
data
out
Clock
Generation
Reset
TAP Controller
finite state machine
instruction register
test signal generator
TAP controller reset
Id
en
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1
2
n
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ID data out
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| PEF22554E | DATACOM, FRAMER, PBGA160 |
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| PES12-42S-N0024 | |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
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