参数资料
型号: M68HC12B
厂商: 飞思卡尔半导体(中国)有限公司
英文描述: Microcontrollers
中文描述: 微控制器
文件页数: 285/334页
文件大小: 1671K
代理商: M68HC12B
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ATD Registers
M68HC12B Family Data Sheet, Rev. 9.1
Freescale Semiconductor
285
CC2–CC0 — Conversion Counter Bits for Current 4 or 8 Conversions
This 3-bit value reflects the contents of the conversion counter pointer in a four or eight count
sequence. This value also reflects which result register is written next, indicating which channel is
currently being converted.
CCF7–CCF0 — Conversion Complete Flags
Each CCF bit is associated with an individual ATD result register. For each register, this bit is set at
the end of conversion for the associated ATD channel and remains set until that ATD result register is
read. It is cleared at that time if AFFC bit is set, regardless of whether a status register read has been
performed (for example, a status register read is not a pre-qualifier for the clearing mechanism when
AFFC = 1). Otherwise, the status register must be read to clear the flag.
17.3.8 ATD Test Registers
Read: Special modes only
Write: Special modes only
The test registers control various special modes which are used during manufacturing. In the normal
modes, reads of the test register return 0 and writes have no effect.
SAR9–SAR0 — SAR Data Bits
Reads of this byte return the current value in the SAR. Writes to this byte change the SAR to the value
written. Bits SAR9–SAR0 reflect the 10 SAR bits used during the resolution process for an 10-bit result.
RST — Module Reset Bit
When set, this bit causes all registers and activity in the module to assume the same state as out of
power-on reset (except for ADPU bit in ATDCTL2, which remains set, allowing the ATD module to
remain enabled).
TSTOUT — Multiplex Output of TST3–TST0 (Factory Use)
TST3–TST0 — Test Bits 3 to 0 (Reserved)
Selects one of 16 reserved factory testing modes
Address: $0068
Bit 7
6
5
4
3
2
1
Bit 0
Read:
SAR9
SAR8
SAR7
SAR6
SAR5
SAR4
SAR3
SAR2
Write:
Reset:
0
0
0
0
0
0
0
0
Figure 17-10
Address: $0069
Bit 7
6
5
4
3
2
1
Bit 0
Read:
SAR1
SAR0
RST
TSTOUT
TST3
TST2
TST1
TST0
Write:
Reset:
0
0
0
0
0
0
0
0
Figure 17-11. ATD Test Register (ATDSTAT)
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PDF描述
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M68TC11E20B56 HC11 Microcontrollers
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