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参数资料
| 型号： | MT28F320A18 |
| 厂商： | Micron Technology, Inc. |
| 英文描述： | FLASH MEMORY |
| 中文描述： | 闪存 |
| 文件页数： | 18/37页 |
| 文件大小： | 558K |
| 代理商： | MT28F320A18 |
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2 MEG x 16
1.8V ENHANCED+ BOOT BLOCK FLASH MEMORY
PRELIMINARY
2 Meg x 16, 1.8V Enhanced+ Boot Block Flash Memory
MT28F320A18_3.fm - Rev. 3, Pub. 9/2002
2002, Micron Technology Inc.
18
lock status will be changed. After completing LOCK,
READ or PROGRAM operations, resume the ERASE
operation with the ERASE RESUME command (D0h).
If a block is locked or locked down during a suspend
erase of the same block, the locking status bits will
change immediately. But, when resumed, the erase
operation will complete.
A locking operation cannot be performed during a
PROGRAM SUSPEND.
Status Register Error checking
Using nested locking or program command
sequences during ERASE SUSPEND can introduce
ambiguity into status register results.
Following protection configuration setup (60h), an
invalid command will produce a lock command error
(SR4 and SR5 will be set to “1”) in the status register. If
a lock command error occurs during an ERASE SUS-
PEND, SR4 and SR5 will be set to “1” and will remain at
“1” after the ERASE SUSPEND is resumed. When the
ERASE is complete, any possible error during the
ERASE cannot be detected via the status register
because of the previous locking command error.
A similar situation happens if an error occurs during
a program operation error nested within an ERASE
SUSPEND.
Table 7:
Bus Operations
MODE
Read (array, status registers, device
identification register, or query)
Standby
Output Disable
Reset
Write
RP#
V
IH
CE#
V
IL
OE#
V
IL
WE#
V
IH
ADDRESS
X
DQ0–DQ15
D
OUT
V
IH
V
IH
V
IL
V
IH
V
IH
V
IL
X
V
IL
X
X
X
X
V
IL
X
X
X
X
High-Z
High-Z
High-Z
D
IN
V
IH
X
V
IH
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